[发明专利]渐变型滤光片的OD值检测方法、系统及存储介质在审
申请号: | 202111576985.9 | 申请日: | 2021-12-22 |
公开(公告)号: | CN114199527A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 程文治;刘继强;李晓春 | 申请(专利权)人: | 长沙麓邦光电科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410206 湖南省长沙市高新开发区*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 渐变 滤光 od 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种渐变型滤光片的OD值检测系统,其特征在于,包括:
激光光源,用于产生圆形光斑;
将所述圆形光斑转换成准直环形光束的转换装置;
用于将被测的渐变型滤光片复原到所述转换装置与图像采集器之间的光路上、或将所述渐变型滤光片从所述转换装置与所述图像采集器之间的光路中移除的支架;
所述图像采集器,用于按先后顺序分别采集将所述渐变型滤光片从所述光路中移除情况下的第一图像,以及将所述渐变型滤光片复原回所述光路中情况下的第二图像;
与所述图像采集器连接的控制器,用于从所述第二图像中提取圆环光束的轮廓信息,根据所提取的轮廓信息确定圆心位置,并以所述圆心为原点且以半径延伸方向上灰度值最大像素点所在边界为极轴建立极坐标系以计算各像素点的角度,拟合出各像素点的灰度值与角度之间的变化曲线;然后将所述第一图像与所述第二图像进行对准处理,通过同一角度分别在所述第一图像和所述第二图像中的灰度值比较得到所述渐变型滤光片的OD值随角度变化的曲线。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述滤光片为连续型中性密度滤光片,所述连续型中性密度滤光片通过旋转镀膜区域提供线性可调的衰减,结构采用紫外熔融石英基底和270°铬镍铁合金镀膜组成,OD值在不同的角度下,逆时针线性递增。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述滤光片为阶跃式中性密度滤光片。
4.根据权利要求1至3任一所述的系统,其特征在于,所述转换装置采用液晶材质的平板锥透镜、涡旋波片、螺旋相位板、空间光调制器中的任意一种:
当使用涡旋波片生成平行的环形光束,只需要平行的线偏振光正入射到涡旋波片,就可以输出平行的涡旋光束;
当使用平板锥透镜时,采用成对的锥透镜,以通过调整两个锥透镜之间的距离来调节圆环的大小,并通过改变入射准直光束的直径来改变环带的宽度。
5.一种渐变型滤光片的OD值检测方法,其特征在于,包括:
以激光光源产生圆形光斑;
以转换装置将所述圆形光斑转换成准直环形光束;
将被测的渐变型滤光片复原到所述转换装置与图像采集器之间的光路上,以图像采集器采集将所述渐变型滤光片从所述光路中移除情况下的第一图像;然后将所述渐变型滤光片从所述转换装置与所述图像采集器之间的光路中移除,并以所述图像采集器采集将所述渐变型滤光片复原回所述光路中情况下的第二图像;
以控制器从所述第二图像中提取圆环光束的轮廓信息,根据所提取的轮廓信息确定圆心位置,并以所述圆心为原点且以半径延伸方向上灰度值最大像素点所在边界为极轴建立极坐标系以计算各像素点的角度,拟合出各像素点的灰度值与角度之间的变化曲线;然后将所述第一图像与所述第二图像进行对准处理,通过同一角度分别在所述第一图像和所述第二图像中的灰度值比较得到所述渐变型滤光片的OD值随角度变化的曲线。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述滤光片为连续型中性密度滤光片,所述连续型中性密度滤光片通过旋转镀膜区域提供线性可调的衰减,结构采用紫外熔融石英基底和270°铬镍铁合金镀膜组成,OD值在不同的角度下,逆时针线性递增。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述滤光片为阶跃式中性密度滤光片。
8.根据权利要求5至7任一所述的方法,其特征在于,所述转换装置采用液晶材质的平板锥透镜、涡旋波片、螺旋相位板、空间光调制器中的任意一种:
当使用涡旋波片生成平行的环形光束,只需要平行的线偏振光正入射到涡旋波片,就可以输出平行的涡旋光束;
当使用平板锥透镜时,采用成对的锥透镜,以通过调整两个锥透镜之间的距离来调节圆环的大小,并通过改变入射准直光束的直径来改变环带的宽度。
9.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现上述权利要求5至8任一所述方法中的步骤。
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