[发明专利]OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，包括步骤：

A1.获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；所述太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；

A2.根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；

A3.提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；

A4.对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点；

步骤A4包括：

A401.对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足；

A402.根据各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足的判断结果，判断所述像素点是否为坏点。

2.根据权利要求1所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，每个所述像素点内包括多个所述探测位置点；

步骤A402之后，还包括：

A403.若根据各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足的判断结果判定所述像素点不是坏点，则计算各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值之间的偏差数据；

A404.根据所述偏差数据的离散情况再次判断所述像素点是否为坏点。

3.根据权利要求1所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，所述指纹谱数据为幅值谱数据；

步骤A2包括：

分别对各所述探测位置点的太赫兹反射波时域数据进行快速傅里叶变换，得到各所述探测位置点的指纹谱数据。

4.根据权利要求3所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，步骤A401包括：

若所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值大于所述像素点的第一峰值阈值，则判定所述探测位置点处的发光墨水厚度不足；否则，判定所述探测位置点处的发光墨水厚度足够。

5.根据权利要求1所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，所述指纹谱数据为吸收谱数据；

步骤A2包括：

针对各所述探测位置点的太赫兹反射波时域数据，计算所述预设光强与所述太赫兹反射波时域数据之差，得到各所述探测位置点的太赫兹吸收量时域数据；

分别对各所述探测位置点的太赫兹吸收量时域数据进行快速傅里叶变换，得到各所述探测位置点的指纹谱数据。

6.根据权利要求5所述的OLED喷印缺陷检测方法，其特征在于，步骤A401包括：

若所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值小于所述像素点的第二峰值阈值，则判定所述探测位置点处的发光墨水厚度不足；否则，判定所述探测位置点处的发光墨水厚度足够。

7.一种OLED喷印缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；所述太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；

第二获取模块，用于根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；

提取模块，用于提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；

判断模块，用于对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点；

所述判断模块用于在对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点的时候，执行：

对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足；

根据各所述探测位置点处的发光墨水厚度是否不足的判断结果，判断所述像素点是否为坏点。