[发明专利]一种高纯度晶体生长系统及方法有效

专利信息
申请号: 202111581945.3 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN114182341B 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 毛朝斌;罗骞;黄吉裕;胡承;王慧勇 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: C30B23/00 分类号: C30B23/00;C30B29/36
代理公司: 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 代理人: 陈志超
地址: 528200 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 纯度 晶体生长 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种高纯度晶体生长系统,用于晶体生长,包括真空腔(1)、反应室(2)和加热组件(3),所述加热组件(3)设置在所述真空腔(1)外,所述加热组件(3)用于加热所述反应室(2),所述反应室(2)安装在所述真空腔(1)内,所述反应室(2)用于放置反应粉料(6),其特征在于,所述反应室(2)包括腔体(21)和设于所述腔体(21)顶端的顶盖(22),所述顶盖(22)的下端面用于放置籽晶(7),所述高纯度晶体生长系统还包括:

第一升降组件(4),与所述顶盖(22)固定连接,用于驱动所述顶盖(22)升降;

供气组件(5),包括第一进气气路(51)、第一真空获得组件(52)、第二进气气路(53)和第二真空获得组件(54),所述第一进气气路(51)和所述第一真空获得组件(52)安装在所述真空腔(1)上端面上,所述第二进气气路(53)和所述第二真空获得组件(54)安装在所述真空腔(1)下端面上,用于使所述真空腔(1)内产生自上向下的气流,还用于使所述真空腔(1)内产生自下向上的气流;

控制器,与所述加热组件(3)、所述第一升降组件(4)和所述供气组件(5)电性连接,用于控制所述加热组件(3)升高所述反应室(2)内的温度,还用于在所述反应室(2)内的温度达到除杂温度时,控制所述供气组件(5)产生自上向下的气流和控制所述第一升降组件(4)驱动所述顶盖(22)上升,还用于控制所述加热组件(3)将所述反应室(2)内的温度升高至晶体生长温度以进行晶体生长,还用于在所述反应室(2)内的温度达到所述晶体生长温度时,控制所述供气组件(5)产生自下向上的气流和控制所述第一升降组件(4)驱动所述顶盖(22)下降到与所述腔体(21)闭合。

2.根据权利要求1所述的高纯度晶体生长系统,其特征在于,当所述真空腔(1)内的温度达到所述除杂温度时,所述供气组件(5)产生的气流包括除杂气体和/或惰性气体。

3.根据权利要求2所述的高纯度晶体生长系统,其特征在于,所述除杂气体为氯化氢气体,所述惰性气体为氩气。

4.根据权利要求1所述的高纯度晶体生长系统,其特征在于,所述高纯度晶体生长系统还包括第二升降组件,所述加热组件(3)安装在所述第二升降组件上,所述第二升降组件用于驱动所述加热组件(3)升降,所述第二升降组件与所述控制器电性连接,所述控制器还用于在对所述反应粉料(6)进行除杂时,控制所述第二升降组件驱动所述加热组件(3)下降,所述控制器还用于在晶体生长时,控制所述第二升降组件驱动所述加热组件(3)上升。

5.根据权利要求1所述的高纯度晶体生长系统,其特征在于,所述反应室(2)包括保温腔室和生长室,所述生长室位于所述保温腔室内。

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