[发明专利]二维氮化镓晶体的制备方法有效
申请号: | 202111584076.X | 申请日: | 2021-12-22 |
公开(公告)号: | CN114232083B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 李春晓;宋文涛;徐耿钊;刘争晖;张春玉;陈科蓓;韩厦;徐科 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | C30B25/00 | 分类号: | C30B25/00;C30B29/40;C30B29/64 |
代理公司: | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人: | 周仁青 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 氮化 晶体 制备 方法 | ||
本发明揭示了一种二维氮化镓晶体的制备方法,所述制备方法包括:S1、提供金属片,并清洗;S2、加热融化镓金属,将熔融态的金属镓转移至金属片上;S3、将金属片及熔融态的金属镓置于反应腔室中,并对反应腔室进行抽真空;S4、加热反应腔室至恒定温度后,向反应腔室中通入氮源,使氮原子传输到金属镓表面,进行二维氮化镓晶体的生长。本发明二维氮化镓晶体的制备方法可以增加横向迁移率,使得超薄的sp3杂化方式及sp2杂化的六方相更容易获得,从而获得高结晶性、高平整的高质量二维氮化镓单晶材料,有望为深紫外光电及电力电子器件制备铺平道路。
技术领域
本发明属于半导体材料技术领域,具体涉及一种二维氮化镓晶体的制备方法。
背景技术
氮化镓(GaN)是第三代氮化物半导体中的一种,是一种直接带隙半导体,其禁带宽度有3.4eV,具有高电子迁移率、高击穿电压、高热导率等优异的性质。而当氮化镓材料减小到二维尺度,就会出现二维电子气、晶格常数增大、带隙蓝移等现象。
受量子限域效应的影响,使二维氮化镓具有理想的深紫外发光、激子效应和电输运特性。然而,氮化镓容易发生sp3杂化的纵向成键,难以通过传统气相生长或机械剥离的方法获得。
因此,针对上述技术问题,有必要提供一种二维氮化镓晶体的制备方法。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种二维氮化镓晶体的制备方法。
为了实现上述目的,本发明一实施例提供的技术方案如下:
一种二维氮化镓晶体的制备方法,所述制备方法包括:
S1、提供金属片,并清洗;
S2、加热融化镓金属,将熔融态的金属镓转移至金属片上;
S3、将金属片及熔融态的金属镓置于反应腔室中,并对反应腔室进行抽真空;
S4、加热反应腔室至恒定温度后,向反应腔室中通入氮源,使氮原子传输到金属镓表面,进行二维氮化镓晶体的生长。
一实施例中,所述金属片为钨片。
一实施例中,所述金属片表面覆盖有贵金属膜,所述贵金属膜为金膜或铂膜,贵金属膜的厚度大于或等于100nm。
一实施例中,所述步骤S1具体为:
将金属片使用去离子水冲洗后,放入清洗好的玻璃容器中;
先用乙醇超声清洗金属片,再用去离子水超声清洗,最后用氮气吹干金属片。
一实施例中,所述步骤S1前还包括:
先用去离子水超声清洗玻璃容器,再用丙酮超声清洗玻璃容器;
重复上述步骤,完成玻璃容器的清洗。
一实施例中,所述步骤S2中,加热融化镓金属的加热温度为30℃~2000℃。
一实施例中,所述步骤S4中,氮源为氮等离子体,恒定温度为600℃~1100℃;或,氮源为氨气,恒定温度大于或等于800℃。
一实施例中,所述步骤S4中,向反应腔室中通入氮源具体为:
向反应腔室中通入氮源,流量为0.1sccm~5sccm,通入时间为1s~20s;
关闭氮源,关闭时间大于通入时间;
重复上述步骤至少两次。
一实施例中,所述氮源为氮等离子体时,二维氮化镓晶体的厚度为1nm~15nm,所述氮源为氨气时,二维氮化镓晶体的厚度为1nm~30nm。
一实施例中,所述步骤S4后还包括:
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