[发明专利]一种高压脉冲高精度检测系统及方法

权利要求书

1.一种高压脉冲高精度检测系统，其特征在于：包括MCU处理器、脉冲发射装置、限流过压保护机构、红外发射管和红外接收管，所述MCU处理器与所述脉冲发射装置连接，并用于控制所述脉冲发射装置向待测件输出高压脉冲，高压脉冲经所述限流过压保护机构后输入至所述红外发射管，所述红外发射管用于向所述红外接收管发送信号，所述红外接收管将信号传输至所述MCU处理器。

2.根据权利要求1所述的一种高压脉冲高精度检测系统，其特征在于：所述脉冲发射装置为高压升压变压器。

3.根据权利要求1所述的一种高压脉冲高精度检测系统，其特征在于：所述限流过压保护机构包括高压电阻器和TVS。

4.根据权利要求1所述的一种高压脉冲高精度检测系统，其特征在于：所述待测件为脉冲围栏前端金属导体。

5.根据权利要求1所述的一种高压脉冲高精度检测系统，其特征在于：所述待测件为多个。

6.一种高压脉冲高精度检测方法，其特征在于，该方法的实现基于权利要求1-5任一项所述的检测系统，该方法具体包括以下步骤：

S1、在MCU处理器中输入预设值：设置电压为Vset，检测信号偏差补偿为x，设定时间为T，精度系数值为a和b，其中a〈b；

S2、程序开始，首次开机或高压布防或低压布防或电压设置时，MCU处理器标记电压校准请求标志badjust＝1，并执行步骤S3；

S3、MCU处理器控制高压脉冲输出，连接待测件返回，经过限流过压保护机构、红外发射管和红外接收管进行光电转换和隔离得到检测信号，并执行步骤S4；

S4、MCU处理器对检测信号进行AD采样，获得AD采样值Vad，并执行步骤S5；

S5、MCU处理器判断电压校准请求标志badjust是否为1，若否，则执行步骤S6；若是，则存储当前电压Vrefout＝Vset和设定AD采样值Vrefin＝Vad，标记电压校准请求标志badjust＝0，并执行步骤S6；

S6、计算实际电压V＝(Vad+x)×Vrefout/(Vrefin+x)，并执行步骤S7；

S7、判断实际电压V和设置电压Vset的偏差ΔV，是否在规定范围a×Vset～b×Vset之间，若是，则执行步骤S8；若否，则标记MCU处理器的自动校准计时器的数值Autoadjdeb＝0，并执行步骤S10，其中ΔV＝|V-Vset|；

S8、MCU处理器的自动校准计时器的数值Autoadjdeb计时增加，并执行S9；

S9、判断是否Autoadjdeb〉T，若是，则标记电压校准请求标志badjust＝1，Autoadjdeb＝0，并执行步骤S10；若否，则执行步骤S10；

S10、高压脉冲输出延时，MCU处理器间隔一定时间后执行步骤S3。

7.根据权利要求6所述的一种高压脉冲高精度检测方法，其特征在于：所述设置电压Vset＝5500V，x＝80。

8.根据权利要求6所述的一种高压脉冲高精度检测方法，其特征在于：所述T＝200秒，步骤S8中，MCU处理器的自动校准计时器的数值Autoadjdeb计时增加1秒。

9.根据权利要求6所述的一种高压脉冲高精度检测方法，其特征在于：所述a＝0.03，b＝0.1。