[发明专利]一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法在审
申请号: | 202111596454.6 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114279374A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 华罗懿;汤陈怀;徐敏君;王胜辉;徐宇锋;刘书宏;陆理平 | 申请(专利权)人: | 上海化学工业区公共管廊有限公司;上海市特种设备监督检验技术研究院 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 亓赢 |
地址: | 201424 上海市奉贤区化*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 管道 数字 射线 测量方法 | ||
1.一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一,采用已知尺寸的物体作为标定物,紧挨着被检测管道放置在侧面,并且与被检测管道轴线在同一平面上;
步骤二,采用大于30keV且小于等于100keV的低能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像;
步骤三,在步骤二得到的图像上选中标定物图像,根据标定物的已知尺寸,计算步骤二得到的图像的单个像素尺寸;
步骤四,采用大于等于160keV的高能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像;
步骤五,将步骤二和步骤四得到的图像进行合并,根据合并后图像中被检测管道侧壁的壁厚方向上的像素数量和步骤三中得到的单个像素尺寸,计算得到被检测管道两个侧壁位置的壁厚绝对值。
2.根据权利要求1所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,还包括步骤六,重复步骤二至步骤五,测量所述被检测管道不同部位的壁厚绝对值。
3.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,使用钢制圆球作为所述标定物。
4.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤二中,所述低能量X射线能清晰观测到被检测管道的外壁轮廓。
5.根据权利要求4所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤二中,所述低能量X射线电压为50kV,电流为0.5mA。
6.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤三中,在所述步骤二得到的图像的灰度分布图中,选取所述标定物的灰度突变的第一个峰值峰谷的平均值为起点,选取灰度突变的最后一个峰值峰谷的平均值为终点,该起点和该终点之间的区域是所述标定物图像范围,统计该区域内的像素数量,将所述标定物的已知尺寸除以像素数量,计算出步骤二得到的图像的单个像素尺寸。
7.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤四中,所述高能量X射线能完全穿透被检测管道,并能清晰观测到被检测管道的内壁轮廓。
8.根据权利要求7所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤四中,所述高能量X射线电压为200kV,电流为1.5mA。
9.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤五中,统计合并后图像中被检测管道侧壁的壁厚方向上的像素数量,乘以步骤三中得到的单个像素尺寸,计算得到被检测管道两个侧壁位置的壁厚绝对值。
10.根据权利要求1或2所述的一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法,其特征在于,所述步骤二、步骤四中,对被检测管道和标定物检测拍摄被检测管道和标定物的图像为符合标准要求的射线影像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海化学工业区公共管廊有限公司;上海市特种设备监督检验技术研究院,未经上海化学工业区公共管廊有限公司;上海市特种设备监督检验技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111596454.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。