[发明专利]一种外观缺陷检测方法

说明书

本申请公开了一种外观缺陷检测方法，获取与检测图像对应的单纹图像；对单纹图像进行图像分割与Blob筛选，得到缺陷Blob图；根据预设缺陷类型与Blob缺陷特征的对应关系，提取对应的Blob缺陷特征；根据Blob缺陷特征，得到缺陷检测结果。本申请中获取与检测图像对应的单纹图像，使本方法即适用于单纹图像，也适用于非单纹图像，增大了适用范围。另外，通过预设缺陷类型与Blob缺陷特征的对应关系，提取对应的Blob缺陷特征，选择相应的缺陷判断策略，使得本方法适用于大多种类型缺陷，增大了算法的适应性和通用性。本申请方法可满足大部分缺陷的检出需求，即具有较好的通用，也大幅减低了后续的维护工作量以及维护成本。

技术领域

本申请涉及缺陷自动检测技术领域，尤其涉及一种外观缺陷检测方法。

背景技术

显示屏是一种输入与输出的设备，广泛应用于手机、笔记本、电视等电子产品中。显示屏的生产工艺较为复杂，且每个环节都可能造成产品缺陷，因此，为确保产品质量，需要对显示屏进行缺陷检测，以筛除存在缺陷的产品。目前，显示屏的缺陷检测方法已由人工检测或仪器检测逐步转变为机器视觉检测。

但是，机器视觉在实际检测过程中仍存在问题，例如，在显示屏模组的外观缺陷检测过程中，该过程为显示屏成品前最后一道品质管控，需要检测的外观缺陷品类较多，例如正面的CG缺陷，边缘缺陷、摄像孔内缺陷、背面的铁壳及框架、听筒的网纱、FPC排线以及石墨保护层等。并且，每一缺陷品类又包括多种缺陷类型，例如FPC排线的缺陷类型包括折痕、破损、偏移、漏铜以及焊接断裂等，如图1所示。

对于上述繁多的检测项目，目前外观缺陷检测过程中，需要针对每类或几类的缺陷产生一种对应的检测算法，因此，完成显示屏模组上所有外观缺陷检测，需要使用多个检测算法。这就造成后续的维护工作量大、维护成本非常高。

发明内容

本申请提供了一种外观缺陷检测方法，以解决现有外观缺陷检测中使用的算法不能适用于所有或大多数外观缺陷类型，即适用性较差的问题。

本申请提供了一种外观缺陷检测方法，包括：

采集显示屏模组的检测图像；

获取与所述检测图像对应的单纹图像；

对所述单纹图像进行图像分割与Blob筛选，得到缺陷Blob图；

根据预设缺陷类型与Blob缺陷特征的对应关系，提取所述缺陷Blob图上与待检测缺陷类型对应的Blob缺陷特征；

根据提取的Blob缺陷特征，得到缺陷检测结果。

一些实施例中，所述获取与所述检测图像对应的单纹图像，包括：

获取检测图像的背景纹理类型；

当背景纹理为单一纹理时，检测图像即为单纹图像；

当背景纹理为复杂纹理时，进行纹理去除，得到单纹图像。

一些实施例中，当检测图像的方差大于或等于预设方差阈值时，检测图像的背景纹理类型为复杂纹理；当检测图像的方差小于预设方差阈值时，检测图像的背景纹理类型为单一纹理。

一些实施例中，纹理去除方法包括：

将检测图像从空间域转换到频率域；

在频率域上进行分析，去除干扰纹理的频率；

将去除干扰纹理的检测图像从频率域转换到空间域，得到干扰纹理去除的检测图像。

一些实施例中，对所述单纹图像进行图像分割包括：

根据单纹图像的亮暗纹理性，选择对应分割灰度范围；

按照所述分割灰度范围对所述单纹图像进行图像分割。