[发明专利]一种超强雪崩能力的整流二极管芯片的生产工艺在审
申请号: | 202111597048.1 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114284146A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 张俊超;朱严刚;吴甘泉 | 申请(专利权)人: | 南通康芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 章威威 |
地址: | 226500 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超强 雪崩 能力 整流二极管 芯片 生产工艺 | ||
本发明涉及一种超强雪崩能力的整流二极管芯片的生产工艺,具体步骤如下,1)选料:原硅片采用(100)晶向硅单晶;2)清洗;3)一次扩散,将硼纸磷纸同时放在硅片两侧,同时进炉扩散形成P+和N+;4)电解技术,利用电解原理将硅片表面的硼硅玻璃和磷硅玻璃去除干净;5)一次黄光;6)开沟:每个晶粒在边缘处的形状必须是正斜角大于60℃造型;7)清洗;8)上玻璃粉;9)去氧化膜;10)镀镍;11)测试挑出常规电性不良晶粒;12)切割形成芯片。优点是将原材料选取、一次扩散、扩散结构、吸杂技术、电解技术、表面造型技术和雪崩能力测试等关键技术结合到一起,才能做出达到欧洲雪崩二极管标准,具有超强雪崩能力的雪崩二极管。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种超强雪崩能力的整流二极管芯片的生产工艺。
背景技术
雪崩的概念:二极管反向雪崩倍增概念:当施加一个反向电压时,电场强度E接近一个临界场强时,空间电荷区中载流子在电场加速获得极大的能量,它冲击碰撞一个晶格原子就会产生电子空穴对。如此类推,反复的碰撞就会出现更多的载流子,电流呈雪崩式的增加,瞬间允许通过大电流,所以叫雪崩倍增,反向雪崩在一定的条件下对于设计合理的二极管来说不是破坏性的。
雪崩功率PRSM:雪崩电压·雪崩电流。
近年来,电力电子技术飞速发展。作为功率半导体器件的基础器件——整流二极管也得到了迅猛的发展。做好现代的雪崩整流二极管是当今社会的一大课题。
一般二极管的正向能承受其额定正向电流的几倍到几十倍,而反向却能承受很小的电流,高水平的雪崩二极管的反向也能承受足够大小的雪崩功率,高水平雪崩整流二极管能有效抑制瞬态电压,允许通过瞬时大电流,从而起到保护器件的作用。当线路中出现过流过压现象,大电流从二极管处通过了,保护了线路中其他设备,而且芯片又不会损坏,具有高可靠性。相当于制作了一个永远不坏的高性能器件。
这种具有高雪崩击穿特性的二极管,在使用中有很大的优越性。
出现瞬态过电压时,箝位住了。
出现瞬态过电流时,允许通过了。
思敏指出,当电场强度 时,都属于雪崩击穿,一般来说6.7V-20000V都属于雪崩二极管。
整流二级管的发展,1、最早人们熟悉的整流二极管是其硬特性,但是却随温度上升而变软2、到后来中国台湾人认识到了正温度特性,给出了ΔVR,又相继给出ΔVF、 测试,这时候的二极管已经展现雪崩特性了,但还不是真正的雪崩二极管,直到当代欧洲人给出了雪崩功率测试,雪崩二极管时代的大门才打开。
1、雪崩线性正温度特性,如图1。PIN硅整流二极管的雪崩电压具有很好的线性正温度特性。即PN结雪崩电压随温度上升而上升,且呈线形关系。正温度特性是雪崩特性的必要不充分条件,从检测上把不具备雪崩特性的剔除。
2、相当大的耐 的能力。雪崩发生时,能承受相当的脉冲过电流,通过反向能力的测试,我们可以知道二极管承受反向雪崩能力的大小。承受的雪崩能量越大,则器件使用就越可靠。
当芯片的尺寸散热一定时,其焦耳功E也是定值, ,对于低压16-45v汽车芯片我们可以采用长脉冲(10~80)ms,对于高压1200V以上芯片,我们可以采用短脉冲例如20us。
3、反向雪崩是可逆的,也就是说对二极管重复施加后,它所有的电、热特性不变。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提出了一种超强雪崩能力的整流二极管芯片的生产工艺,工艺完善合理,能够得到一个超强雪崩能力的整流二极管芯片。
本发明的技术方案:
一种超强雪崩能力的整流二极管芯片的生产工艺,具体步骤如下:
1)选料:原硅片采用(100)晶向硅单晶。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造