[发明专利]一种光学膜厚度检测装置有效
申请号: | 202111601649.5 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114506725B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 王健;韩巍巍 | 申请(专利权)人: | 江苏翔腾新材料股份有限公司 |
主分类号: | B65H23/26 | 分类号: | B65H23/26;B65H20/06;B65H43/04;B65H35/06 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 冯彬 |
地址: | 210000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 厚度 检测 装置 | ||
本申请涉及一种光学膜厚度检测装置,涉及光学膜生产技术的领域,包括承载台和安装架,安装架设置在承载台上,安装架上设置有用于检测光学膜的厚度的检测机构,承载台一端设置有用于输送待检测光学膜的第一输送机构,安装架上设置有用于将光学膜不合格位置进行切除的切割机构,承载台上还设置有用于将裁剪后的光学膜进行拖动前移的牵引机构,承载台在远离第一输送机构的一侧设置有用于牵拉光学膜的第二输送机构。本申请具有光学膜厚度检测过程中,去除光学膜厚度不达标部位的作用。
技术领域
本申请涉及光学膜生产技术的领域,尤其是涉及一种光学膜厚度检测装置。
背景技术
光学薄包括反射膜、减反射膜、偏振膜以及干涉滤光片等等,广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器,随着科学技术的发展,人们光学膜功能要求越来越高。
光学薄通常由多层介质组成,多层介质之间相互黏合,在制作光学膜的过程中,如果光学薄的厚度出现超出允许范围外的误差时,则会严重影响光学薄光学性能,所以光学膜制作完成后需要对光学膜进行厚度检测。发明人发现现有的光学膜厚度检测器只是对光学膜进行厚度检测,而并未对光学膜的不合格位置从光学膜整体上去除。
发明内容
为了在光学膜厚度检测过程中,将光学膜厚度不达标部位去除的目的,本申请提供一种光学膜厚度检测装置。
本申请提供的一种光学膜厚度检测装置采用如下的技术方案:
一种光学膜厚度检测装置,包括承载台和安装架,所述安装架设置在承载台上,所述安装架上设置有用于检测光学膜的厚度的检测机构,所述承载台一端设置有用于输送待检测光学膜的第一输送机构,所述安装架上设置有用于将光学膜不合格位置进行切除的切割机构,所述承载台上还设置有用于将裁剪后的光学膜进行拖动前移的牵引机构,所述承载台在远离第一输送机构的一侧设置有用于牵拉光学膜的第二输送机构。
通过采用上述技术方案,第一输送机构和第二输送机构配合实现光学膜的输送,操作者通过检测机构对传送过程中的光学膜进行厚度检测,经过检测机构的检测后,不符合要求的光学膜通过切割机构进行部分切除,再通过牵引机构将裁剪后的光学膜继续向前输送至第二输送机构位置,第二输送机构对光学膜继续牵拉,使得对光学膜的检测过程继续,该方式在光学膜厚度检测的基础上,实现将光学膜厚度不达标的部位自动去除的功能。
可选的,所述检测机构包括第一检测器和第二检测器,所述第一检测器和第二检测器均固定连接在安装架上,所述第一检测器靠近第一输送机构设置,输送第二检测器远离第一输送机构设置。
通过采用上述技术方案,采用第一检测器和第二检测器配合对光学膜进行厚度检测,第一检测器和第二检测器之间的间距为光学膜可利用的最小长度。
可选的,所述切割机构包括第一上切刀、第二上切刀以及第三上切刀,所述第一上切刀、第二上切刀以及第三上切刀均沿竖直放下滑移设置在安装架上,所述第一上切刀设置在第一检测器远离第二检测器一侧,所述第二上切刀设置在第一检测器和第二检测器之间,所述第三上切刀设置在第二检测器远离第一检测器的一侧,所述第一上切刀、第二上切刀以及第三上切刀下方均设置有下切刀,所述承载台上开设有三个凹槽,所述且到与凹槽一一对应,各个所述下切刀均固定连接在凹槽内,所述安装架上设置有顶推气缸,所述顶推气缸的活塞杆上固定连接有控制杆,所述控制杆滑移设置在安装架上,所述安装架上设置有第一联动组件和第二联动件,所述顶推气缸带动控制杆移动并通过第一联动组件控制第一上切刀和第三上切刀下移,所述顶推气缸带动控制杆移动并通过第二联动组件控制第二上切刀和第三上切刀下移。
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