[发明专利]通信卡的冲切线测量装置在审
申请号: | 202111602534.8 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN114413709A | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 程治国;何思博;陈宗潮;曾浩 | 申请(专利权)人: | 东信和平科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B5/02 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 张龙哺 |
地址: | 519060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通信 切线 测量 装置 | ||
本发明公开了一种通信卡的冲切线测量装置,包括:底座;上盖,与底座上下分布且相互连接,上盖与底座之间围合形成有插槽;多个定位圆柱,在插槽的边沿处水平排列成两排,每排定位圆柱至少有两个定位圆柱,其中一排定位圆柱靠近插槽的外公切线构成第一定位线,另一排定位圆柱靠近插槽的外公切线构成第二定位线,第一定位线和第二定位线相垂直;标记框,形成于上盖,标记框由第一标记线、第二标记线、第三标记线、第四标记线和第五标记线依次围合而成。本测量装置通过巧妙地设计标记框的位置和尺寸,使得标记框的各条标记线均处于极限位置,以便比对卡体上的各条冲切线,从而能够检测卡体产品是否合格,操作简单,测量快速且精准度高。
技术领域
本发明涉及通信卡制作技术领域,特别涉及通信卡的冲切线测量装置。
背景技术
通信卡在使用前,需要将带有通信芯片的小卡从卡体上剥下来,为了方便使用者轻松地剥下小卡,在卡体制作过程中,通常会在小卡的外沿冲切出剥离槽。
考虑到冲切设备与卡体相对位置的误差,还需要一道专门的质量检测工序,测量剥离槽最外侧的冲切线至卡体上的边或点之间的距离大小,再判断该距离大小是否大于最小允许距离,而有的冲切线的距离大小则需要小于最大允许距离,合格的产品是剥离槽及其冲切线均限定于卡体上特定区域范围内。由于小卡的形状为类似缺角矩形的五边形,因此需要测量的有效冲切线有五条,分别为第一冲切线、第二冲切线、第三冲切线、第四冲切线和第五冲切线,参照图1,其中,需要测量第一冲切线31以及第三冲切线33至第一基准边36之间的距离,第二冲切线32以及第五冲切线35至第二基准边37之间的距离,第四冲切线34至第一基准边36与第二基准边37相交点之间的距离。
目前,通常是使用尺子测量各条冲切线至边或点的距离,测量人员将待测量的卡体放在桌面上固定,然后用尺子的零刻度线靠近卡体的边,然后测量出各条冲切线的距离,这个过程要确保卡体的边到冲切线的距离是垂直的,要慢慢地对准测量,测量过得比较耗时,也容易产生较大的误差。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种通信卡的冲切线测量装置,其操作简单,测量快速且精准。
根据本发明实施例的通信卡的冲切线测量装置,包括:底座;上盖,与所述底座上下分布且相互连接,所述上盖与所述底座之间围合形成有可供卡体插入的插槽;多个定位圆柱,在所述插槽的边沿处水平排列成两排,每个所述定位圆柱的轴线沿上下方向延伸,每排所述定位圆柱至少有两个所述定位圆柱,其中一排所述定位圆柱靠近所述插槽的外公切线构成第一定位线,另一排所述定位圆柱靠近所述插槽的外公切线构成第二定位线,所述第一定位线和所述第二定位线相垂直;标记框,形成于所述上盖,所述标记框由第一标记线、第二标记线、第三标记线、第四标记线和第五标记线依次围合而成,所述第一标记线与所述第一定位线相平行且两者之间的距离为第一冲切线至第一基准边之间的最小允许距离,所述第二标记线与所述第二定位线相平行且两者之间的距离为第二冲切线至第二基准边之间的最小允许距离,所述第三标记线与所述第一定位线相平行且两者之间的距离为第三冲切线至所述第一基准边之间的最大允许距离,所述第四标记线至所述第一定位线与所述第二定位线相交点的距离为第四冲切线至所述第一基准边与所述第二基准边相交点的最大允许距离,所述第五标记线与所述第二定位线相平行且两者之间的距离为第五冲切线至所述第二基准边的最大允许距离。
至少具有如下有益效果:本测量装置通过巧妙地设计标记框的位置和尺寸,使得标记框的各条标记线均处于极限位置,以便比对卡体上的各条冲切线,从而能够检测卡体产品是否合格。本测量装置操作简单,只需将卡体插入插槽内,使卡体上第一基准边和第二基准边分别抵靠在两排定位圆柱上,然后再判断卡体上的第一冲切线、第二冲切线、第三冲切线、第四冲切线和第五冲切线是否超出标记框以外,换一句话说,只要卡体上的第一冲切线、第二冲切线、第三冲切线、第四冲切线和第五冲切线都处于标记框内,那么卡体产品就是合格品,可以直接观察,如此测量非常快速,此外,定位圆柱的设计可以确保精准定位,能够杜绝发生杂物阻挡卡体而导致定位不准的情况,测量精准度高。
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