[发明专利]真空测试装置在审

专利信息
申请号: 202111603893.5 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114441099A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 张和毅 申请(专利权)人: 上海贤日测控科技有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 上海上谷知识产权代理有限公司 31342 代理人: 陈程
地址: 201611 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 真空 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种真空测试装置,所述真空测试装置用于检测连接管的气密性,所述连接管具有内部通道,所述内部通道内设有阀门,所述阀门被设置成可打开或关闭所述内部通道,所述内部通道的一端为第一开口端,另一端为第二开口端,其特征在于,包括:

箱体,所述箱体分为上段和下段,所述上段和下段可密封组装,所述下段的侧壁设有第一通孔,所述上段的顶部设有第二通孔;

底座,所述底座固定连接于所述下段的底板上,所述底座上设有安装槽用于放置所述阀门的所述第一开口端;

第一驱动机构,包括第一驱动轴,所述第一驱动轴的一端位于所述下段外部,另一端经由所述第一通孔延伸至所述下段内,所述第一驱动轴被设置成可在抵靠位置和脱离位置之间移动,在所述抵靠位置,所述第一驱动轴的端部靠近所述底座并使得所述第一驱动轴的端部密封性地堵塞所述连接管的所述第二开口端,在所述脱离位置,所述第一驱动轴远离所述底座;

第二驱动机构,包括第二驱动轴,所述第二驱动轴的一端位于所述上段外,另一端经由所述第二通孔延伸至所述上段内,所述第二驱动轴被设置成可在闭合位置和脱开位置之间移动,在所述闭合位置,所述第二驱动轴位于所述下段内的端部靠近所述底座,在所述脱开位置,所述第二驱动轴位于所述下段内的端部远离所述底座;

限位件,所述限位件连接于所述第二驱动轴上且位于所述箱体的所下段内;

所述测试装置在启动状态时,所述第一驱动轴处于抵靠位置,所述第二驱动轴位于所述密封位置,所述限位件被设置成可限制所述第一驱动轴远离所述抵靠位置。

2.根据权利要求1所述的真空测试装置,其特征在于,所述第一驱动轴位于所述下段内的一端设有朝向所述下段顶部延伸的凸起部;

所述限位件为U型杆且包括第一限位杆、第二限位杆和连接杆,所述连接杆设有连接孔且套设于所述第二驱动轴上,所述第一限位杆和所述第二限位杆连接于所述连接杆的两端且朝向所述箱体的所述下段延伸;

所述测试装置在启动状态时,所述第一限位杆的远离所述连接杆的端部抵靠所述凸起部的远离所述底座的一侧,所述第二限位杆抵靠所述底座的远离所述第一驱动轴的一侧。

3.根据权利要求2所述的真空测试装置,其特征在于,所述底座还包括限位块,所述限位块位于所述底座的与所述第一驱动轴相反的一侧;

所述测试装置在所述启动状态时,所述第二限位杆抵靠所述限位块的远离所述第一驱动轴的一侧。

4.根据权利要求3所述的真空测试装置,其特征在于,所述第一限位杆远离所述连接杆的端部设有第一导向面,所述第一导向面设置于所述第一限位杆上靠近所述第二限位杆的一侧,且沿所述第一限位杆至端部逐渐偏离所述第二限位杆;

所述第二限位杆远离所述连接杆的端部设有第二导向面,所述第二导向面设置于所述第二限位杆靠近所述第一限位杆的一侧,且沿所述第二限位杆至端部逐渐偏离所述第一限位杆;

所述限位块远离所述第一驱动轴的一侧设有第三导向面,所述第三导向面沿所述限位块至顶部逐渐靠近所述第一驱动轴。

5.根据权利要求4所述的真空测试装置,其特征在于,所述第二驱动装置还包括压紧件,所述压紧件连接于所述第二驱动轴且位于所述限位件的下方;

所述连接孔的直径大于所述第二驱动轴的直径以使得所述第二限位件的第二导向面沿所述限位块的第三导向面移动。

6.根据权利要求1所述的真空测试装置,其特征在于,所述第一驱动轴内设有进气管,所述进气管一端位于所述第一驱动轴位于所述箱体的所述下段内的端部,另一端与所述箱体外的气源连通。

7.根据权利要求6所述的真空测试装置,其特征在于,所述第一驱动轴位于所述箱体内的端部还设有密封装置;

在启动状态,所述密封装置被设置可使得第一驱动轴的端部外周密封性贴合所述第二开口端的所述内部通道侧壁。

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