[发明专利]一种基于声流体增强的电化学芯片表面纳米颗粒修饰装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111610412.3 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114324544A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 王艳艳;刘泽宇;朱峰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N27/48 分类号: G01N27/48;G01N27/416;G01N27/30;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 王丽
地址: 300350 天津市津南区海*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 流体 增强 电化学 芯片 表面 纳米 颗粒 修饰 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于声流体增强的电化学芯片表面纳米颗粒修饰装置,其特征是,在微流道对侧放置谐振器,利用谐振器振动在液体中产生声流体,增强电化学芯片表面纳米颗粒修饰。

2.如权利要求1所述的装置,其特征是,包括谐振器、微米级流道、电化学芯片、压盖、流道管;微米级流道位于谐振器上方;电化学芯片位于流道上方,且电化学芯片工作区域位于流道中,谐振器位于电化学芯片正下方;压盖位于电化学芯片上方,且与下方微流道贴合形成封闭流道;流道管贯穿压盖至流道中。

3.如权利要求2所述的装置,其特征是,微米级流道高度设定为100~1000μm。

4.权利要求2的基于声流体增强的电化学芯片表面纳米颗粒修饰装置搭建方法,其特征是,包括如下步骤:

步骤A:将谐振器固定于EVB板上并放于底部;

步骤B:将微米级流道放于谐振器上,并保证谐振器位于微流道中;

步骤C:将电化学芯片放于微流道上,并保证电化学芯片位于微流道中;

步骤D:将压盖盖于电化学芯片上,压盖与电化学芯片尺寸切合,并与微流道接触形成封闭微流道;

步骤E:将流道管插入压盖中直至进入微流道内。

5.如权利要求3所述的方法,其特征是,微米级流道采用聚二甲基硅氧烷材料。

6.一种基于声流体增强的电化学芯片表面纳米颗粒修饰方法,其特征是,采用电化学芯片与谐振器的联合工作方式:保持谐振器振动状态维持微环境中的声流体微涡旋,后对电化学芯片施加电信号,在电化学芯片表面沉积纳米颗粒。

7.如权利要求3所述的方法,其特征是,采用循环伏安法或恒电位法施加电信号。

8.如权利要求3所述的方法,其特征是,激励谐振器振动产生声流体,输入功率0.5~5W。

9.如权利要求3所述的方法,其特征是,电化学芯片表面流速0.5~3m/s。

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