[发明专利]一种PERC+SE电池碱抛前后保护工艺在审
申请号: | 202111611915.2 | 申请日: | 2021-12-27 |
公开(公告)号: | CN114447144A | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 徐晓斌;朱腾骏;李正清 | 申请(专利权)人: | 张家港博佑光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C16/40;C23C16/505 |
代理公司: | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人: | 于鹏 |
地址: | 215611 江苏省苏州市张家港*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 perc se 电池 前后 保护 工艺 | ||
1.一种PERC+SE电池碱抛前后保护工艺,其特征在于,具体工艺步骤如下:
步骤1:前氧化+去PSG处理,将清洗干净的衬底装入反应腔内,通入流量为20sccm的氢气,在射频作用下进行预处理,将反应腔抽至真空,使用硅烷和甲硅烷的混合气体作为反应气体,在硅片表面镀SiO2保护层;使用HF与去离子水混合的溶液去除扩散过程中形成在硅片背面多余的SiO2,进入步骤2;
步骤2:碱抛处理,将步骤1所得的硅片放入含KOH3和H2023的清洗槽中进行碱洗,碱洗温度在45℃,碱洗时间为120-180s,碱洗完成后放入添加有KOH和辅助添加剂的碱抛槽内,对硅片碱抛腐蚀,碱抛温度在65℃,碱抛时间为120-250s,取出后放入含有HF和HCL的酸洗槽进行清洗,再经慢提拉和烘干后,进入步骤3;
步骤3:后氧处理,在射频作用下,使用硅烷和甲硅烷的混合气体作为反应气体,在步骤2所得的硅片表面形成SiO2修复层。
2.如权利要求1所述的一种PERC+SE电池碱抛前后保护工艺,其特征在于:所述步骤1中SiO2保护层的厚度为50nm左右。
3.如权利要求1所述的一种PERC+SE电池碱抛前后保护工艺,其特征在于:所述步骤2中碱洗槽内KOH3和H2023的配槽比例为1:6-8;碱抛槽内KOH和辅助添加剂的配槽比例为2.5:1,酸洗槽内HF和HCL的配槽比例为3.75:1,清洗时间为120-250s。
4.如权利要求1所述的一种PERC+SE电池碱抛前后保护工艺,其特征在于:所述步骤1、3中反应气体甲烷和硅烷的流量比均为50sccm:5sccm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张家港博佑光电科技有限公司,未经张家港博佑光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111611915.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的