[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种试验装置，具备：

电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个发光元件各自的端子；

光源部，其对所述复数个发光元件一并照射光；

电性测定部，其测定光电信号，所述光电信号是所述复数个发光元件分别对从所述光源部照射的光进行光电转换后而得的；

发光控制部，其使成为发光处理的对象的至少一个发光元件发光；

光测定部，其对成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件发出的光进行测定；及

判定部，其基于所述电性测定部的测定结果及所述光测定部的测定结果，来判定所述复数个发光元件各自的良否。

2.如权利要求1所述的试验装置，其进一步具备关联计算部；

所述关联计算部基于关于成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件的所述电性测定部及所述光测定部的测定结果，计算所述至少一个发光元件输出的光电信号与光特性的关联，所述光特性是所述至少一个发光元件发射出的光的亮度、色度及光谱的至少一个。

3.如权利要求2所述的试验装置，其中，所述判定部将所述复数个发光元件中的至少一个发光元件判定为不良，所述至少一个发光元件是基于所测定的所述光电信号及所述关联，被推断为所述光特性在正常范围外的发光元件。

4.如权利要求3所述的试验装置，其中，所述判定部使用以下范围作为所述正常范围，也就是以与成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件发射出的光的所述光特性相应的统计量作为基准的范围。

5.如权利要求1所述的试验装置，其中，所述发光控制部基于所述电性测定部的测定结果，从成为试验对象的所述复数个发光元件中选择成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件。

6.如权利要求5所述的试验装置，其中，所述发光控制部选择所述电性测定部所测定的所述光电信号体现出预定的阈值以上的突变的发光元件，作为成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件。

7.如权利要求6所述的试验装置，其中，所述发光控制部依据与所述电性测定部对所述复数个发光元件所测定的所述光电信号相应的统计量，使用不同的复数个所述阈值中的特定的所述阈值。

8.如权利要求5所述的试验装置，其中，所述发光控制部计算所述电性测定部对所述复数个发光元件所测定的所述光电信号的平均值及标准偏差，基于所述平均值及所述标准偏差，选择所述光电信号的大小互不相同的成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件。

9.如权利要求5至8中任一项所述的试验装置，其中，所述判定部基于对被选择为所述发光处理的对象的发光元件发射出的光进行测定所得的所述光测定部的测定结果，来判定所选择的所述发光元件的良否。

10.如权利要求9所述的试验装置，其中，所述判定部在光特性在正常范围外时，将所选择的所述发光元件判定为不良，所述光特性是所选择的所述发光元件发射出的光的亮度、色度及光谱的至少一个。

11.如权利要求10所述的试验装置，其中，所述判定部使用以下范围作为所述正常范围，也就是以与成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件发射出的光的所述光特性相应的统计量作为基准的范围。

12.一种试验方法，具备：

电性连接阶段，其将电性连接部电性连接至成为试验对象的复数个发光元件各自的端子；

照射阶段，其对所述复数个发光元件一并照射光；

电性测定阶段，其测定所述复数个发光元件分别对所照射的光进行光电转换后而得的光电信号；

发光控制阶段，其使成为发光处理的对象的至少一个发光元件发光；

光测定阶段，其对成为所述发光处理的对象的所述至少一个发光元件发出的光进行测定；及

判定阶段，其基于所述电性测定阶段的测定结果及所述光测定阶段的测定结果，来判定所述复数个发光元件各自的良否。

13.一种计算机可读存储介质，其存储有程序，所述程序通过对复数个发光元件进行试验的试验装置来执行，并用于使所述试验装置执行权利要求12所述的试验方法。