[发明专利]一种无线充电手机壳耐久性测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111625237.5 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114002143A 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 李谭军 申请(专利权)人: 蓝思科技股份有限公司
主分类号: G01N19/00 分类号: G01N19/00;G01M13/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 任洁芳
地址: 410311 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 无线 充电 机壳 耐久性 测试 装置 方法
【说明书】:

本申请公开一种无线充电手机壳耐久性测试装置,包括:设置有定位部的定位平台,定位部用于容纳手机壳并对手机壳进行定位;用于固定手机的测试平台;通过吸咐方式将手机壳移至手机上,并通过按压将手机壳套设于手机上的机械手;与手机壳的四个拐角对应,分别作用于四个拐角的四个顶升件;顶升件,包括:竖直设置的顶升气缸,安装在顶升气缸的顶升伸缩杆上,作用于拐角的顶升部。本申请提供的无线充电手机壳耐久性测试装置与方法,与现有技术比较,能够能够测试出无线充电手机壳的涂层开裂、PC开裂、TPU‑PC分离、IM磁铁线圈分离或功能性不良、电源键/音量键/静音孔/相机孔/大平面破损等不良等问题,测试更加精准。

技术领域

本申请涉及手机壳性能测试技术领域,更具体地说,尤其涉及一种无线充电手机壳耐久性测试装置;还涉及一种无线充电手机壳耐久性测试方法。

背景技术

手机壳,是用于对手机进行保护或者装饰的产品。随着手机在人们生活中越发重要,手机壳的性能越发受人们重视。尤其是无线充电手机壳,首先,其比普通的用作保护的手机壳材质硬,采用PC+TPU材质,与普通的皮质或者硅胶手机壳相比较,硬度大、强度高,对耐久性要求要高,因此,用单一的方法检测无法满足对无线充电手机壳的质量检测要求;其次,无线充电手机壳的凹面中间镶嵌有IM磁铁线圈,因此在拆卸手机壳时,在对手机壳进行拆装时,手机壳凹面中间镶嵌的IM磁铁线圈不能产生分离和功能性不良。

评价手机壳性能的指标有多种,如紫外线耐候性、耐磨性、耐刮性、耐污性、耐久性等,其中,耐久性为一项重要的测试指标。

现有测试普通手机壳耐久性的方法有拐角弯曲拆装法与向后装入拆装法,循环拆装一定次数后检查不良并依据判断标准进行判定,请如图1、图2所示,图1为手机壳10的A、B、C、D四个拐角,图2为手机20的A1、B1、C1、D1四个拐角示意图,其中,

拐角弯曲拆装法:将手机插入手机壳5400个循环,一个循环包括按住手机壳B角和C角,首先从手机B1角部分取出手机壳并推动,2秒钟后将手机壳装回原位,然后从C角取下手机壳,2秒钟后将手机壳推回原位。

向后装入拆装法:插入并拆除实验装置1000个循环,一个周期包括插入和取出,首先将手机插入顶部边缘AD,然后在底部边缘BC按下手机;之后先拆下手机壳的B角,然后再拆下C角,取出整个手机。

对于普通手机壳耐久性测试,为了保证测试的精准性,行业内外普遍采用人工操作进行测试,测试效率非常低,且检测人员劳动强度大;现有技术中也有简单的对于普通手机壳耐久性测试工具,但无法满足无线手机壳的耐久性测试要求,从而无法保证测试精准性。

发明内容

为解决上述技术问题,本申请提供一种无线充电手机壳耐久性测试装置,相较于现有技术而言,能够测试出无线充电手机壳的涂层开裂、PC开裂、TPU-PC分离、IM磁铁线圈分离或功能性不良、电源键/音量键/静音孔/相机孔/大平面破损等不良等问题,测试更加精准;本申请还提供一种无线充电手机壳耐久性测试方法,具有同样的效果。

第一方面,为了解决现有技术存在的问题,本申请提供一种无线充电手机壳耐久性测试装置,包括:

设置有定位部的定位平台,所述定位部用于容纳手机壳并对所述手机壳进行定位;

用于固定手机的测试平台;

通过吸咐方式将所述手机壳移至所述手机上,并通过按压将所述手机壳套设于所述手机上的机械手;

与所述手机壳的四个拐角对应,分别作用于四个所述拐角的四个顶升件;

所述顶升件,包括:

竖直设置的顶升气缸,

安装在所述顶升气缸的顶升伸缩杆上,作用于所述拐角的顶升部。

优选的,所述顶升部上与所述手机对应的一侧,设置有与所述手机的拐角匹配的弧形部。

优选的,所述顶升部的上周面设置有与所述弧形部形状匹配的突出部。

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