[发明专利]一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 202111626079.5 | 申请日: | 2021-12-28 |
公开(公告)号: | CN114420195B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 刘孜 | 申请(专利权)人: | 深圳市晶存科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 俞梁清 |
地址: | 518048 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 odt 校准 方法 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种ODT校准方法,其特征在于,应用于存储器,所述方法包括:
获取初始阻值和总校准次数;
获取当前校准次数;
根据所述初始阻值与所述当前校准次数确定ODT的目标阻值;
根据所述目标阻值进行预设的Training动作,并记录与所述目标阻值对应的运行指标,其中,所述运行指标为与所述Training动作相关的参数值,所述运行指标为眼宽值、眼宽通过率、延时中的至少一个;
当所述当前校准次数大于所述总校准次数,根据所述运行指标从多个所述目标阻值中选出最终阻值作为所述ODT的校准后阻值。
2.根据权利要求1所述的一种ODT校准方法,其特征在于,所述根据所述初始阻值与所述当前校准次数确定ODT的目标阻值,包括:
根据所述初始阻值与所述当前校准次数的比值确定ODT的目标阻值。
3.根据权利要求1所述的一种ODT校准方法,其特征在于,所述根据所述初始阻值与所述当前校准次数确定ODT的目标阻值,包括:
根据所述当前校准次数确定挡位值,所述挡位值的大小与所述当前校准次数负相关;
根据所述初始阻值与所述挡位值确定ODT的目标阻值。
4.根据权利要求1所述的一种ODT校准方法,其特征在于,获取预设ODT的初始阻值和总校准次数,包括:
若所述存储器处于高频状态,则使能ODT,获取初始阻值和总校准次数。
5.根据权利要求4所述的一种ODT校准方法,其特征在于,还包括:
若所述存储器处于低频状态,则关闭ODT。
6.根据权利要求1所述的一种ODT校准方法,其特征在于,所述根据所述运行指标从多个所述目标阻值中选出最终阻值,包括:
若所述运行指标为所述眼宽值,则从多个所述目标阻值中选出所述眼宽值最大对应的目标阻值作为最终阻值;
若所述运行指标为所述眼宽通过率,则从多个所述目标阻值中选出所述眼宽通过率最大对应的目标阻值作为最终阻值;
若所述运行指标为所述延时,则从多个所述目标阻值中选出所述延时最小对应的目标阻值作为最终阻值。
7.根据权利要求6所述的一种ODT校准方法,其特征在于,所述根据所述运行指标从多个所述目标阻值中选出最终阻值,还包括:
若所述运行指标为所述眼宽值和所述眼宽通过率,则从多个所述目标阻值中先选出所述眼宽值最大对应的第一目标阻值,再从多个所述第一目标阻值选所述眼宽通过率最大对应的第二目标阻值作为最终阻值;
若所述运行指标为所述眼宽值、所述眼宽通过率和所述延时,则从多个所述目标阻值中先选出所述眼宽值最大对应的第一目标阻值,再从多个所述第一目标阻值选所述眼宽通过率最大对应的第二目标阻值,再从多个所述第二目标阻值选所述延时最小对应的第三目标阻值作为最终阻值。
8.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的方法。
9.一种存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其特征在于,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行如权利要求1至7中任意一项所述的方法。
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