[发明专利]一种基于偏振光的材料光热性能测试平台在审
申请号: | 202111626661.1 | 申请日: | 2021-12-28 |
公开(公告)号: | CN114486747A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 赵莉娟;顾雅蓉;薛厂;时权 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/21 |
代理公司: | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人: | 燕宏伟 |
地址: | 200044*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 偏振光 材料 光热 性能 测试 平台 | ||
1.一种基于偏振光的材料光热性能测试平台,其用于检测被测物的光热特性,其特征在于:所述基于偏振光的材料光热性能测试平台包括一个测试保护装置,一个设置在所述测试保护装置中的光学装置,以及一个设置在所述测试保护装置中的温度检测装置,所述测试保护装置用于阻止所述光学装置所发出的光遗漏到外界并包括一个比色皿,所述光学装置包括一个第一偏振分光器,以及一个设置在所述第一偏振分光器的出光方向上的光功率计,所述温度检测装置用于当光线投射到所述比色皿中的被测物上时检测该被测物的即时温度、最高温度、以及最低温度。
2.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述测试保护装置包括一个光学暗箱,以及一个设置在所述光学暗箱中的保温泡沫,所述比色皿设置在所述保温泡沫中。
3.如权利要求2所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述比色皿由石英粉烧制的。
4.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述第一偏振分光器为一个薄膜偏振分光棱镜。
5.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述光学装置还包括一个设置在所述偏振分光器的出光方向上的四分之一波片,通过旋转该四分之一波片以获得右旋圆偏振光或左旋圆偏振光。
6.如权利要求5所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述光学装置还包括一个设置在所述四分之一波片的出光方向上的第二偏振分光器,所述第二偏振分光器为一个薄膜偏振片。
7.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:当所述比色皿中的被测物为固体材料时,所述第一偏振分光器为一个薄膜偏振分光棱镜,所述薄膜偏振分光棱镜或四分之一波片的出光方向平行于所述比色皿的高度方向。
8.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:当所述比色皿中的被测物为液态材料时,所述第一偏振分光器为一个薄膜偏振分光棱镜,所述薄膜偏振分光棱镜或四分之一波片的出光方向垂直于所述比色皿的高度方向。
9.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述光学装置还包括一个设置在所述测试保护装置的外侧的激光器,所述激光器设置在所述第一薄膜偏振分光棱镜的入光方向上。
10.如权利要求1所述的基于偏振光的材料光热性能测试平台,其特征在于:所述温度检测装置为一个红外线热成像测温仪。
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