[发明专利]尺寸检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种尺寸检测方法，其特征在于，所述尺寸检测方法包括：

获取待测件的检测图像；

确定所述检测图像中的待测区域；

确定所述待测区域沿第一方向的每一行的第一像素点个数与沿第二方向的每一列的第二像素点个数，所述第一方向与所述第二方向相垂直；

根据所述第一像素点个数与所述第二像素点个数，确定所述待测区域的尺寸。

2.根据权利要求1所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述确定所述待测区域沿第一方向的每一行的第一像素点个数与沿第二方向的每一列的第二像素点个数，所述第一方向与所述第二方向相垂直，包括：

确定所述待测区域的灰度直方图；

根据所述灰度直方图，确定二值化灰度值；

根据所述二值化灰度值对所述检测图像进行二值化，获取二值图像；

确定所述二值图像对应所述待测区域沿第一方向的每一行的第一像素点个数与沿第二方向的每一列的第二像素点个数，所述第一方向与所述第二方向相垂直。

3.根据权利要求2所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述根据所述灰度直方图，确定二值化灰度值，包括：

确定所述灰度直方图中灰度值小于预设灰度值的灰度值分布；

确定所述灰度值分布中，所述灰度值小于预设灰度值的像素点数量最多的像素点对应的灰度值，作为二值化灰度值。

4.根据权利要求2所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述待测区域的尺寸包括沿第一方向的第一尺寸以及沿第二方向的第二尺寸，所述根据所述第一像素点个数与所述第二像素点个数，确定所述待测区域的尺寸，包括：

确定模板图像中预设待测区域沿第一方向的第一预设数量与沿第二方向的第二预设数量；

根据第一预设数量与所述第一像素点个数确定所述待测区域沿第一方向的第一尺寸，以及根据第二预设数量与所述第二像素点个数确定所述待测区域沿第二方向的第二尺寸。

5.根据权利要求4所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述确定模板图像中预设待测区域沿第一方向的第一预设数量与沿第二方向的第二预设数量，包括：

沿第一方向对所述预设待测区域进行逐行扫描确定沿第一方向每一行的像素点数量，以及沿第二方向对所述预设待测区域进行逐列扫描确定沿第二方向上每一列的像素点数量；

根据沿第一方向的像素点数量确定所述第一预设数量以及根据沿第一方向的像素点数量所述第二预设数量。

6.根据权利要求4所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述根据第一预设数量与所述第一像素点个数确定所述待测区域沿第一方向的第一尺寸，以及根据第二预设数量与所述第二像素点个数确定所述待测区域沿第二方向的第二尺寸，包括：

当所述待测区域沿第一方向的第一像素点个数与所述第一预设数量的比值达到第一预设比例时，确定该行第一方向的第一像素点个数为所述第一尺寸；

当所述待测区域沿第二方向的第二像素点个数与所述第二预设数量的比值达到第二预设比例时，确定该行第二方向的第二像素点个数为所述第二尺寸。

7.根据权利要求2所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述根据所述二值化灰度值对所述检测图像进行二值化，获取二值图像，之后还包括：

确定所述二值图像的检测区域；

根据所述检测区域，执行确定所述二值图像对应所述待测区域沿第一方向的每一行的第一像素点个数与沿第二方向的每一列的第二像素点个数的步骤。

8.根据权利要求7所述的尺寸检测方法，其特征在于，所述确定所述二值图像的检测区域，包括：

确定所述二值图像中所述待测区域的中心位置，以所述中心位置向第一方向的第一检测长度以及沿第二方向的第二检测长度确定所述二值图像的检测区域。