[发明专利]复合材料太赫兹成像分辨力增强方法、装置、设备和介质有效
申请号: | 202111638247.2 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN114004833B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 李志龙;左剑;张存林;赵源萌;杨墨轩 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T5/00;G06T5/10;G06T5/20 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 彭星 |
地址: | 100089 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合材料 赫兹 成像 分辨力 增强 方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种复合材料太赫兹成像分辨力增强方法,其特征在于,所述方法包括:
采用太赫兹成像系统,对被测复合材料进行成像检测,以得到针对所述被测复合材料的第一一维距离像;
对所述第一一维距离像进行高频去噪,获得去噪后的第二一维距离像;
将所述第二一维距离像作为第一引导图,对所述第二一维距离像进行引导滤波得到细节层,以及,将细节增强后的所述第二一维距离像作为第二引导图,对所述第二一维距离像进行引导滤波得到基础层;
对所述细节层与所述基础层分别进行第一增益和第二增益,将进行所述第一增益后的细节层和进行所述第二增益后的基础层叠加为第三一维距离像;
对所述第三一维距离像进行幅值成像,得到成像后的结果图像。
2.根据权利要求 1 所述的方法,其特征在于,所述采用太赫兹成像系统,对被测复合材料进行成像检测,以得到针对所述被测复合材料的第一一维距离像,包括:
通过所述太赫兹成像系统对所述被测复合材料进行成像检测,以获取所述被测复合材料在不同界面的反射回波的至少一个幅值信息;
根据所述至少一个幅值信息得到所述被测复合材料在太赫兹时域的检测信号;
对所述检测信号进行快速傅里叶变换,得到所述第一一维距离像;其中,所述快速傅里叶变换的公式为:
;
式中,表征快速傅里叶变换,为所述检测信号,为所述第一一维距离像。
3.根据权利要求 1 所述的方法,其特征在于,对所述第一一维距离像进行高频去噪,获得去噪后的第二一维距离像,包括:
对所述第一一维距离像进行离散小波变换,以根据小波母函数将所述第一一维距离像分解为多个尺度下的第一变换结果;其中,所述第一一维距离像与所述第一变换结果的第一关系为:
;
式中,为预设的离散化伸缩指数,为预设的离散化平移系数,t为太赫兹时域的检测信号中的时间变量,为所述第一变换结果,为所述离散化伸缩指数为的尺度因子,为所述离散化伸缩指数为离散化伸缩指数为的尺度因子, 为小波母函数,为小波基函数,所述小波基函数是基于所述离散化伸缩指数、所述离散化平移系数和所述时间变量下的小波母函数,为所述小波基函数的共轭;为所述第一一维距离像;
根据尺度函数将所述第一一维距离像分解为多个尺度下的第二变换结果;其中,所述第一一维距离像与所述第二变换结果的第二关系为:
;
式中,为所述第二变换结果,为尺度函数,为所述尺度函数经过倍伸缩和倍平移之后得到的第一尺度函数;为所述第一尺度函数的共轭;
根据多分辨率分析方程确定多个尺度下所述小波基函数与所述尺度函数的第三关系;其中,所述第三关系为:
;
式中,为平移倍数,为所述尺度函数在尺度下进行倍平移后的第二尺度函数;为所述小波基函数对应的第一小波系数;为j尺度下的小波函数与j+1尺度下的所述尺度函数建立关系时的对应平移变化量;小波函数包括小波基函数、小波母函数;
根据所述第一关系、所述第二关系、所述第三关系,得到多个尺度下所述第一变换结果与目标第二变换结果的第四关系;其中,所述第四关系为:
;
式中,为所述第二尺度函数对应的目标第二变换结果;
根据所述第四关系,确定多个尺度下每个所述第一变换结果对应的第一小波系数;
根据预设阈值对由所有所述第一小波系数构成的第一小波系数集合进行硬阈值函数收缩去噪,以将每个尺度下的所述第一小波系数更改为对应的第二小波系数;其中,通过以下公式进行硬阈值函数收缩去噪:
;
式中,为所述预设阈值;为所述第二小波系数;为所述第一小波系数的模;所述预设阈值是多个尺度下所述第一小波系数的标准偏差;
确定所述第二小波系数中值不为零的至少一个目标第二小波系数;
根据所述第四关系,确定所述至少一个目标第二小波系数中每个所述目标第二小波系数对应的目标第一变换结果;
根据所述第一关系,将所有所述目标第一变换结果重构,得到所述第二一维距离像。
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