[发明专利]一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法在审

专利信息
申请号: 202111640214.1 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114328053A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 薛海卫;雷志军 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26;G01T1/29
代理公司: 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 代理人: 杨强;杨立秋
地址: 214000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 微处理器 瞬态 剂量率 辐照 测试 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统,其特征在于,包括依次连接的试验主控制板(1)、NI工控机(2)、被测微处理器电路(3)、示波器(4)、显示器(5);

被测微处理器电路(3)装载在测试板上,测试板通过电磁屏蔽SCI串口通信和电磁屏蔽供电线路与试验主控制板(1)连接,测试板还与示波器(4)连接,被测微处理器电路(3)通过测试板把需要与被测电路通信和监控的信号引出;被测微处理器电路(3)中状态监测端口信号的电压、电流值反馈给示波器(4),由示波器(4)进行现场监控并记录;

NI工控机(2)与试验主控制板(1)通过供电线连接,还通过主控制板通信总线通讯连接,还与显示器(5)连接,显示器(5)实时显示工控机上运行的监控软件内容;NI工控机(2)给整个测试系统供电、运行现场监控程序、记录试验过程中电流电压值;

试验主控制板(1)包括主控处理器、FPGA、FLASH存储器及电源转换,通过主控处理器的串口初始化被测电路,远程加载测试程序并返回测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

首先NI工控机(2)给试验主控制板(1)、被测微处理器电路(3)上电,并把被测微处理器电路(3)的测试算法、状态、数据通信初始化测试程序下载到试验主控制板(1)的FLASH中;

上电完成后,试验主控制板(1)复位被测微处理器电路(3),将FLASH中的初始化测试程序通过串口远程加载到被测微处理器电路(3)中,被测微处理器电路(3)的片内SRAM除了运行FFT运算程序外,其余空间初始化为固定值;外设寄存器初始化配置为正常收发功能;配置GPIO管脚为固定的输入输出状态,输出的GPIO管脚通过屏蔽线连接到示波器(4)上;

瞬态辐照前,被测微处理器电路(3)循环运行FFT运算、外设通信测试程序,试验主控制板(1)通过SCI串口读取被测微处理器电路(3)中的运算的FFT结果、CPU内核外设状态值与FLASH中的正确值进行比对,示波器(4)远程采集瞬时辐照前的GPIO输出波形;

瞬态辐照零时刻,试验主控制板(1)发出指令使被测微处理器电路(3)固定在某一状态,并读取该状态存入到试验主控制板(1)的存储器中;示波器(4)采集被测微处理器电路(3)的GPIO端口电压波形;NI工控机(2)记录瞬态辐照前的电源电压、电流值;

瞬态辐照中,示波器(4)自动触发采集被测微处理器电路(3)的GPIO输出状态并记录波形;NI工控机(2)记录瞬态辐照时的电源电压、电流值,判断是否发生闩锁现象;

瞬态辐照结束后,试验主控制板(1)通过串口读取被测微处理器电路(3)内部的FFT运算数据、内核外设状态、片内SRAM存储值状态,与瞬态辐照零时刻时存入试验主控制板(1)存储器中的值作比较,判断是否一致;随后,在不断电的情况下,试验主控制板(1)发出指令唤醒被测微处理器电路(3),运行测试程序。

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