[发明专利]一种超声成像方法、系统和存储介质在审

专利信息
申请号: 202111641162.X 申请日: 2021-12-29
公开(公告)号: CN114343717A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 笪益辉 申请(专利权)人: 武汉联影医疗科技有限公司
主分类号: A61B8/08 分类号: A61B8/08;A61B8/00
代理公司: 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 代理人: 王君
地址: 430206 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 超声 成像 方法 系统 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种超声成像方法,所述方法包括:

发射至少一组B模式超声波,获取至少一帧B模式超声图像,并基于所述至少一帧B模式超声图像,获取至少一条第一取样线;

在相邻两帧B模式超声图像的帧间时间发射至少一组M模式超声波,所述至少一组M模式超声波中的每一组包括多次M模式超声波;

基于所述至少一组M模式超声波和所述至少一条第一取样线,获取与所述至少一组M模式超声波中的每一组所述多次M模式超声波对应的多条第二取样线;

基于所述至少一条第一取样线和所述与每一组M模式超声波中所述多次M模式超声波对应的多条第二取样线,获取与所述每一组M模式超声波对应的至少一帧M模式超声图像。

2.如权利要求1所述的方法,所述基于所述至少一帧B模式超声图像,获取至少一条第一取样线,包括:

显示所述至少一帧B模式超声图像;

接收操作指令,以获取在所述至少一帧B模式超声图像中确定的所述至少一条第一取样线。

3.如权利要求1所述的方法,所述基于所述至少一组M模式超声波和所述至少一条第一取样线,获取与所述至少一组M模式超声波中的每一组的所述多次M模式超声波对应的多条第二取样线,包括:

基于所述至少一条第一取样线,获取在目标物体上对应的至少一条第三取样线;

基于所述至少一条第三取样线和超声探头的阵元的位置,获取所述阵元对应的有效时间段;

基于所述阵元在所述有效时间段内接收的所述多次M模式超声波的回波信号,生成所述多次M模式超声波对应的所述多条第二取样线。

4.如权利要求3所述的方法,所述基于所述至少一条第三取样线和超声探头的阵元的位置,获取所述阵元对应的有效时间段,包括:基于所述至少一条第三取样线和所述多次M模式超声波中的每一次M模式超声波对应的第一波阵面,获取所述每一次M模式超声波对应的第一时刻,所述第一波阵面是所述每一次M模式超声波最先到达所述第三取样线的波阵面,所述第一时刻是所述第一波阵面到达所述第三取样线的时刻;

基于所述至少一条第三取样线和所述每一次M模式超声波对应的第二波阵面,获取所述每一次M模式超声波对应的第二时刻,所述第二波阵面是所述每一次M模式超声波最后离开所述第三取样线的波阵面,所述第二时刻是所述第二波阵面离开所述第三取样线的时刻;

基于所述第一波阵面的第一回波到所述阵元的第一传播时间和所述第一时刻,获取所述阵元对应的有效时间段起始时刻;

基于所述第二波阵面的第二回波到所述阵元的第二传播时间和所述第二时刻,获取所述阵元对应的有效时间段结束时刻;

基于所述阵元对应的有效时间段起始时刻和有效时间段结束时刻,获取所述阵元对应的有效时间段。

5.如权利要求4所述的方法,

所述第一波阵面和所述第二波阵面为球面波波阵面;

所述第一波阵面和所述第三取样线相切于所述每一次M模式超声波发射对应的焦点到所述至少一条第三取样线的垂点;

所述第二波阵面和所述第三取样线相交于所述第三取样线的最远端点,所述最远端点为所述每一次M模式超声波发射对应的焦点和所述至少一条第三取样线的两个端点中距离最远的端点。

6.如权利要求4所述的方法,

所述第一波阵面和所述第二波阵面为平面波波阵面;

所述第一波阵面和所述第三取样线相交于第一边界阵元在所述第一波阵面上的垂点,所述第一边界阵元是距离所述第三取样线较近的边界阵元;

所述第二波阵面和所述第三取样线相交于第二边界阵元在所述第二波阵面上的垂点,所述第二边界阵元是距离所述第三取样线较远的边界阵元。

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