[发明专利]软件缺陷定位方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 202111647492.X | 申请日: | 2021-12-29 |
公开(公告)号: | CN114281705A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 黄友俊;李星;吴建平;张明明 | 申请(专利权)人: | 赛尔网络有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李世阳 |
地址: | 100084 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 软件 缺陷 定位 方法 装置 电子设备 介质 | ||
本公开提供一种软件缺陷定位方法和装置,方法包括:获取软件测试日志,软件测试日志包含软件缺陷信息;提取软件测试日志中的代码覆盖信息,代码覆盖信息用于表征各行代码的运行完成度;根据代码覆盖信息得到已执行代码;从已执行代码中定位软件缺陷。本公开的方法缩小了软件缺陷的寻找范围,提高了软件测试的效率,为进一步的软件缺陷分析奠定了基础。
技术领域
本公开涉及软件测试技术领域,尤其涉及一种软件缺陷定位方法、装置、电子设备及介质。
背景技术
随着信息技术的发展和普及,软件在我们的生活中随处可见,软件也成了信息化的必要组成部分,因此软件的质量便显得尤为重要。而作为构成软件的代码,代码的质量不仅关系到软件开发的成本,还关系到用户对软件的体验。代码的缺陷有可能严重影响到代码的质量,而且潜在的缺陷发现得越晚,所造成的后果就越严重。众所周知,在软件开发中的应用涉及到诸多领域和模块,软件开发人员的参差不齐也导致了代码质量的参差不齐,查询和定位代码中的缺陷显得十分重要。
目前在软件测试中,测试方法的重心多在于对测试出来的缺陷或错误进行分析,例如通过白盒测试方法来测试检测产品内部性能,检验程序中的路径是否可以按照要求完成工作。而通过黑盒测试方法来对功能进行测试。均是以测试软件正常与否为目的的方法,很少关注缺陷出现的时间、位置等特征,并且,这些软件测试方法步骤多,复杂度高,需要测试人员花费大量的时间成本。
发明内容
(一)要解决的技术问题
针对现有的技术问题,本公开提供一种软件缺陷定位方法、装置、电子设备及介质,用于至少部分解决以上技术问题。
(二)技术方案
本公开提供一种软件缺陷定位方法,包括:获取软件测试日志,软件测试日志包含软件缺陷信息;提取软件测试日志中的代码覆盖信息,代码覆盖信息用于表征各行代码的运行完成度;根据代码覆盖信息得到已执行代码;从已执行代码中定位软件缺陷。
可选地,软件缺陷定位方法还包括:对已执行代码进行标记。
可选地,根据所述代码覆盖信息得到已执行代码包括:根据各行代码的标记,汇总已标记的代码所在的行或者段落得到代码块;从代码块中获取已执行代码。
可选地,从已执行代码中定位软件缺陷包括:根据已执行代码判断软件缺陷所在的代码位置;对含有缺陷的不同文件和段落进行统一编码并按缺陷等级排序;从排序后的代码中定位软件缺陷。
可选地,软件缺陷定位方法还包括:启动软件测试检测软件缺陷;截取软件缺陷所在的屏幕界面图像;输出软件缺陷的信息字符串得到软件测试日志,信息字符串包括出现缺陷的时间;根据屏幕界面图像,从已执行代码中定位软件缺陷。
可选地,软件缺陷定位方法还包括:将代码覆盖信息添加到被检测软件的操作记录中;对完成测试后的代码覆盖信息进行标记。
可选地,定位软件缺陷后,软件缺陷定位方法还包括:存储系统状态,系统状态包括进程、内存和CPU负载。
本公开另一方面提供一种软件缺陷定位装置,包括:获取模块,用于获取软件测试日志,软件测试日志包含软件缺陷信息;提取模块,用于提取软件测试日志中的代码覆盖信息,代码覆盖信息用于表征各行代码的运行完成度;定位模块,用于根据代码覆盖信息得到已执行代码,从已执行代码中定位软件缺陷。
本公开的另一方面提供了一种电子设备,包括:一个或多个处理器;存储器,用于存储一个或多个程序,其中,当上述一个或多个程序被上述一个或多个处理器执行时,使得上述一个或多个处理器实现上述根据本公开实施例的软件缺陷定位方法。
本公开的另一方面提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机可执行指令,上述指令在被执行时用于实现根据本公开实施例的软件缺陷定位方法。
(三)有益效果
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