[发明专利]一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法有效
申请号: | 202111649618.7 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN114002665B | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 胡伟东 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01S13/34 | 分类号: | G01S13/34;G01S7/41 |
代理公司: | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人: | 刘戈 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用 赫兹 测量 等效 rcs 测试 方法 | ||
1.一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法,其特征在于,包括:根据测试频率以及目标尺寸,计算目标的远场条件;结合测试场所的测试距离,计算合适的目标缩比比例及所述目标缩比比例下对应的测试频率;根据所述目标缩比比例,加工目标缩比模型;利用太赫兹超宽带雷达对缩比模型进行测试,得到缩比目标远场条件下的RCS;以及根据缩比原理,修正结果得到实际测试频率下的等效远场目标RCS;
所述太赫兹超宽带雷达包括:发射链路和接收链路;所述发射链路发射频率随着时间线性增加的连续波信号 :其中为扫频信号的起始频率,T为扫频重复周期,为初始相位,k表示扫频信号的调频斜率,其等于扫频带宽除以扫频重复周期:k=B/T;经过距离为R处的目标反射回来的信号表示为:
其中为目标引起的回波信号延时,;所述接收链路中产生的归一化中频信号:;
目标指定频率f1下的RCS响应采样时刻为:,其中为第二次延时,R0为目标中心距测试雷达的距离,c为光速,f0为扫频信号的起始频率,k为扫频信号的斜率;
在所述利用太赫兹超宽带雷达对缩比模型进行测试,得到缩比目标远场条件下的RCS的步骤之后,所述方法还包括:对缩比数据进行定标,包括:将定标球放置在目标位置,获取相同测试参数下的定标球回波信号记Er(t);获得目标的回波信号为Et(t),所述定标球计算得到的RCS为,则定标过程为:其中为定标后的太赫兹缩比RCS;
通过下式得到目标的RCS:其中,s为缩比系数。
2.根据权利要求1所述的应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法,其特征在于,所述太赫兹超宽带雷达为超宽带线性调频连续波测量雷达,所述超宽带线性调频连续波测量雷达采用锯齿波调制或三角波调制。
3.根据权利要求1所述的应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法, 所述发射链路和接收链路采用功分之后的同一扫频信号;其中在所述发射链路中,所述扫频信号经过2n倍频之后经过功率放大模块由天线发射出去;在所述接收链路中,所述扫频信号经过n倍频后,作为二次谐波混频器的本振输入,并且经过目标反射回来的信号作为所述二次谐波混频器的射频输入,两路信号混频之后产生归一化中频信号,其中n为整数。
4.根据权利要求1所述的应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法,其特征在于,所述太赫兹超宽带雷达为频率步进雷达及矢量网络分析仪结合倍频模块。
5.一种应用如权利要求1-4任一项所述的应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法的装置,其特征在于,包括:远场条件计算模块,用于根据测试频率以及目标尺寸,计算目标的远场条件;测试频率计算模块,用于结合测试场所的测试距离,计算合适的目标缩比比例及所述目标缩比比例下对应的测试频率;目标缩比模型加工模块,用于根据所述目标缩比比例,加工目标缩比模型;缩比目标远场条件下的RCS计算模块,利用太赫兹超宽带雷达对缩比模型进行测试,得到缩比目标远场条件下的RCS;以及等效远场目标RCS计算模块,用于根据缩比原理,修正结果得到实际测试频率下的等效远场目标RCS。
6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序在处理器上执行时实现权利要求1-4中任一项所述的应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法。
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