[发明专利]一种参数自校准系统及其控制方法

权利要求书

1.一种参数自校准系统，其特征在于：包括微控制器、可控开关、可调基准源、可调基准源输出压值调节电路、ADC采样点、运放电路、零点漂移抑制电路、温度漂移抑制电路，所述微控制器通过所述可调基准源输出压值调节电路与所述可调基准源连接，所述可调基准源、所述ADC采样点与所述可控开关连接，所述可控开关用于切换可调基准源校准回路和ADC采样点工作回路，所述可控开关与所述运放电路连接，所述运放电路与所述零点漂移抑制电路、所述温度漂移抑制电路、所述微控制器的AD采样口连接。

2.如权利要求1所述的一种参数自校准系统，其特征在于：所述可调基准源输出压值调节电路采用数字电位器。

3.如权利要求1所述的一种参数自校准系统，其特征在于：所述零点漂移抑制电路包括可调电阻，所述可调电阻串联在所述运放电路中运算放大器的调零端之间。

4.如权利要求1所述的一种参数自校准系统，其特征在于：所述温度漂移抑制电路包括第一热敏电阻、第二热敏电阻，所述第一热敏电阻和所述第二热敏电阻串联在所述运放电路中运算放大器的调零端之间。

5.如权利要求1所述的一种参数自校准系统，其特征在于：还包括测试工装和直流稳压电源，所述测试工装接在所述ADC采样点处，所述测试工装与所述直流稳压电源连接。

6.一种参数自校准系统的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

定时切换导通回路，微控制器定时控制可控开关切换导通回路；

控制输出压值，当切换至可调基准源校正回路时，所述微控制器通过调节数字电位器数值控制可调基准源输出压值；

AD采样，选取若干可调基准源输出压值，通过可控开关导通回路，经过运算放大器的比例运算后，送到微控制器的AD采样口；

计算误差比例，经过所述微控制器内部运算得到实际的采集值，根据所述微控制器备份的对应的实际基准源电压值计算误差比例；

计算偏差校准系数和偏差补偿常数，若计算出的误差比例数值相等或者差值在允许范围内，则计算偏差校准系数和偏差补偿常数；

各ADC采样点参数采样，当切换至ADC采样点工作回路时，各ADC采样点参数通过可控开关导通回路，经过运算放大器的比例运算后，送到微控制器的AD采样口；

补偿计算，经过微控器内部运算得到实际的采样值，通过所述偏差校准系数和所述偏差补偿常数进行补偿，显示数据；

全量程分段补偿，若计算出的误差比例数值非线性关系，且差值超过范围，则对整个量程采样值进行分段处理，每段分别取若干数值，通过所述AD采样步骤至所述补偿计算步骤对每段量程采样值进行补偿。

7.如权利要求6所述的一种参数自校准系统的控制方法，其特征在于：所述AD采样步骤中，选取的可调基准源输出压值包括接近产品量程的最高量程、接近产品量程的中间值和接近产品量程的最小量程。

8.如权利要求7所述的一种参数自校准系统的控制方法，其特征在于：所述计算误差比例步骤中，误差比例计算公式为：

α₁＝j/a

α₂＝k/b

α₃＝l/c

其中，α₁为第一误差比例，a为接近产品量程的最高量程，j为微控制器内部备份的对应a的实际基准源电压值，α₂为第二误差比例，b为接近产品量程的中间值，k为微控制器内部备份的对应b的实际基准源电压值，α₃为第三误差比例，c为接近产品量程的最小量程，l为微控制器内部备份的对应c的实际基准源电压值；

所述计算偏差校准系数和偏差补偿常数步骤中，所述偏差校准系数为

α＝α₃*α₂/α₁

所述偏差补偿常数为

β＝(j+k+l-α*(a+b+c))/3；

所述补偿计算步骤中，显示数据为

m＝α*n+β

其中，n为ADC采样点参数经过微控器内部运算得到实际的采样值。