[发明专利]辐射发射测试系统

权利要求书

1.一种辐射发射测试系统，其特征在于，包括，

采集模块，用以采集辐射发射测试时接收天线接收的电磁波，并获取电磁波的参数信息，所述电磁波的参数信息包括电磁波的振幅、波长和频率；

分析模块，用以对所述电磁波的参数信息进行分析，并根据分析结果进行电磁波信号强度判定，其与所述采集模块连接，所述分析模块计算电磁波的强度判断系数A，并根据强度判断系数A对电磁波的强度进行判定；

控制模块，用以根据电磁波信号强度控制滤波单元对电磁波信号进行过滤，其与所述分析模块连接，其中，当所述分析模块判定为低强度电磁波时，所述控制模块用以控制滤波单元接通放大器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行放大并过滤，当所述分析模块判定为中强度电磁波时，所述控制模块用以根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，当所述分析模块判定为高强度电磁波时，所述控制模块用以控制滤波单元接通衰减器和高通滤波器，以对接收的电磁波进行衰减并过滤；

判断模块，用以对EUT进行辐射强度判定，其与所述控制模块连接，所述判断模块根据过滤后电磁波的电场强度E进行辐射强度判定；

所述分析模块在对电磁波的参数信息进行分析时，计算电磁波的强度判断系数A，设定A＝0.5×B/B0+0.5×C/C0，B为采集到的电磁波振幅，B0为预设标准振幅，C为采集到的电磁波的频率，C0为预设标准频率，所述分析模块将计算得到的强度判断系数A与各预设强度判断系数进行比对，并根据比对结果对电磁波的强度进行判定，其中，

当A＜A1时，所述分析模块判定该电磁波为低强度电磁波；

当A1≤A＜A2时，所述分析模块判定该电磁波为中强度电磁波；

当A2≤A时，所述分析模块判定该电磁波为高强度电磁波；

其中，A1为第一预设强度判断系数，A2为第二预设强度判断系数，A1＜A2；

所述控制模块在控制电磁波放大时，将获取的电磁波频率C与预设最小频率Cm进行比对，并根据比对结果设置电磁波的频率放大系数，其中，

当Cm≤C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a1，a1为预设值，a1＞1，放大后电磁波的频率为C1，设定C1＝C×a1；

当Cm＞C时，所述控制模块将电磁波的频率放大系数设为a2，设定a2＝a1+a1×(Cm-C)/Cm，放大后电磁波的频率为C2，设定C2＝C×a2。

2.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块在设置高通滤波器的限值对放大后的电磁波进行过滤时，将放大后的电磁波频率Ci与所述预设标准频率C0进行比对，设定i＝1,2，并根据比对结果设置高通滤波器的限值，其中，

当Ci≥C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn1，Cn1为预设标准限值，Cn1＜C0；

当Ci＜C0时，所述控制器将高通滤波器的限值设为Cn2，设定Cn2＝Cn1-C0+Ci。

3.根据权利要求1所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述分析模块在判定所述接收天线接收的电磁波为中强度电磁波时，所述控制模块根据测试环境中已知干扰波的数量K控制滤波单元的滤波过程，其中，

当K＝1时，若已知干扰波的频率Co≤C，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波，并将高通滤波器的限值设为Co，若已知干扰波的频率Co＞C，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波，并将带阻滤波器的最小限值设为Co；

当K＞1时，所述控制模块根据已知干扰波的频率范围控制滤波单元的滤波过程。

4.根据权利要求3所述的辐射发射测试系统，其特征在于，所述控制模块将电磁波的频率C与已知干扰波的频率极值进行比对，并根据比对结果控制滤波单元的滤波过程，其中，

当C＜C01时，所述控制模块接通带阻滤波器进行滤波；

当C01≤C≤C02时，所述控制模块接通高通滤波器和带阻滤波器同时进行滤波；

当C02＜C时，所述控制模块接通高通滤波器进行滤波；

其中，C01为已知干扰波的最小频率，C02为已知干扰波的最大频率，C01＜C02。