[发明专利]基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法在审
| 申请号： | 202111650767.5 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114384101A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 应刚;鲁晨阳;龚浩天;陈昕;吴娜;乔明利;段乐君;刘永清 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 对数 螺线 型弯晶 离散 固体 样品 元素 分析 方法 | ||
1.一种基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，包括将激发光源发射处，放置在对数螺线的起点处，将衍射晶体放置在所述对数螺线上，所述衍射晶体的内表面形成的曲线与所述对数螺线一致，所述激发光源发出的激发光通过第一光阑入射到所述衍射晶体表面形成衍射光，所述衍射光经第二光阑入射到样品上形成特征光，所述特征光由探测器接收，经数字多道处理分析形成结果；其中，所述对数螺线数学模型为，为所述衍射晶体的布拉格衍射角。
2.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述对数螺线位置处设置内表面形成的对应曲线与所述对数螺线一致的对数螺线型弯晶基底，所述衍射晶体贴合安装在所述对数螺线型弯晶基底内侧表面上。
3.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述第一光阑开口尺寸由所述激发光源发射处的位置和自身位置以及所述衍射晶体在所述对数螺线型弯晶基底位置和所述衍射晶体自身尺寸确定。
4.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述样品设置在样品台上，设置在所述样品台上的所述样品表面与离焦面保持一致。
5.根据权利要求4中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述离焦面的位置根据所要照射的样品面积进行计算后进行确定或根据测试结果进行实验确定。
6.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述激发光源为X射线光管。
7.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述激发光源联结高压模块。
8.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述衍射晶体与所述对数螺线型弯晶基底内侧之间包括可拆卸移动安装结构。
9.根据权利要求1中所述基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，其特征在于，所述衍射晶体为柔性片材。
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