[发明专利]电子元件的检测方法及装置、存储介质、电子设备

说明书

本公开属于产品检测技术领域，涉及一种电子元件的检测方法及装置、存储介质、电子设备。该方法包括：获取电子元件的待检测图像，并对待检测图像进行目标检测处理得到电子元件的引脚图像；对引脚图像进行实例分割处理确定引脚图像中的目标区域，并根据目标区域对引脚图像进行图像修复处理得到修复图像；基于目标区域，对修复图像进行质量检测处理得到电子元件的检测结果。本公开为量化检测引脚区域中的目标区域的质量提供了数据基础，对低分辨率的引脚图像进行优化和修复，显著提高了检测方法的应用场景，根据目标区域对修复图像进行质量检测处理，提供了一种自动化且智能化的检测方法，节省了人力成本和时间成本，提高了检测的效率和准确率。

技术领域

本公开涉及产品检测技术领域，尤其涉及一种电子元件的检测方法与电子元件的检测装置、计算机可读存储介质及电子设备。

背景技术

电子元件缺陷检测是电子工厂实际生产中非常重要的一环，涉及焊接的连接器等多种产品。在完成焊接后，易出现焊脚偏移、焊脚缺失、相邻焊脚焊锡连接短路、焊盘不规则，焊脚过长等缺陷。

现有方案中的多种焊接缺陷检测方式只能通过人工目测的方式进行。并且，现有焊接缺陷检测数据集标注难度大、数量少、数据不平衡，难以支持自动化的电子元件质量检测。

鉴于此，本领域亟需开发一种新的电子元件的检测方法及装置。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种电子元件的检测方法、电子元件的检测装置、计算机可读存储介质及电子设备，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制而导致的检测准确率低和检测成本高的技术问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本发明实施例的第一个方面，提供一种电子元件的检测方法，所述方法包括：

获取电子元件的待检测图像，并对所述待检测图像进行目标检测处理得到所述电子元件的引脚图像；

对所述引脚图像进行实例分割处理确定所述引脚图像中的目标区域，并根据所述目标区域对所述引脚图像进行图像修复处理得到修复图像；

基于所述目标区域，对所述修复图像进行质量检测处理得到所述电子元件的检测结果。

在本发明的一种示例性实施例中，所述对所述待检测图像进行目标检测处理得到所述电子元件的引脚图像，包括：

利用聚类算法和遗传算法确定锚框参数，并根据所述锚框参数训练待训练的目标检测模型得到训练好的目标检测模型；

利用所述训练好的目标检测模型对所述待检测图像进行目标检测处理得到所述电子元件的引脚图像。

在本发明的一种示例性实施例中，所述对所述引脚图像进行实例分割处理确定所述引脚图像中的目标区域，包括：

利用实例分割模型对所述引脚图像进行实例分割处理确定所述引脚图像中的目标区域。

在本发明的一种示例性实施例中，所述根据所述目标区域对所述引脚图像进行图像修复处理得到修复图像，包括：

根据所述目标区域对所述引脚图像进行图像质量判断得到图像质量分值，并确定与所述图像质量分值对应的分值阈值；

将所述图像质量分值与所述分值阈值进行比较得到分值比较结果，并根据所述分值比较结果对所述引脚图像进行图像修复处理得到修复图像。

在本发明的一种示例性实施例中，所述基于所述目标区域，对所述修复图像进行质量检测处理得到所述电子元件的检测结果，包括：