[发明专利]用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质在审
申请号: | 202111654090.2 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN114297965A | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 张芬 | 申请(专利权)人: | 北京紫光芯能科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/33 | 分类号: | G06F30/33;G06F21/60 |
代理公司: | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人: | 陶俊洁 |
地址: | 100083 北京市海淀区王庄路1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 寄存器 进行 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本申请涉及寄存器验证技术领域,公开一种用于对寄存器进行验证的方法,包括:获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限;根据寄存器参数和访问权限生成验证激励;按照验证激励对寄存器进行验证,获得验证结果。这样,能够自动对寄存器进行验证,不需要人工对寄存器进行验证,提高了对寄存器进行验证的效率。本申请还公开一种用于对寄存器进行验证的装置、电子设备、存储介质。
技术领域
本申请涉及寄存器验证技术领域,例如涉及一种用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质。
背景技术
随着集成电路规模越来越大,集成电路的各模块会设计数量较多的寄存器以实现模块相应的功能。在对集成电路进行使用前,需要对集成电路各模块的寄存器分别进行验证。现有技术中,通常由人工对照模块设计文档计算寄存器的哪些位可以进行写入和读出,从而对寄存器进行验证。在寄存器的数量较多的情况下,人工对寄存器进行验证的效率较低。
发明内容
为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解,下面给出了简单的概括。概括不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围,而是作为后面的详细说明的序言。
本公开实施例提供了一种用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质,以提高对寄存器验证的效率。
在一些实施例中,用于对寄存器进行验证的方法,包括:获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限;根据所述寄存器参数和所述访问权限生成验证激励;按照所述验证激励对所述寄存器进行验证,获得验证结果。
在一些实施例中,用于对寄存器进行验证的装置,包括:获取模块,被配置为获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限;生成模块,被配置为根据所述寄存器参数和所述访问权限生成验证激励;验证模块,被配置为按照所述验证激励对所述寄存器进行验证,获得验证结果。
在一些实施例中,电子设备,包括处理器和存储有程序指令的存储器,所述处理器被配置为在运行所述程序指令时,执行上述的用于对寄存器进行验证的方法。
在一些实施例中,存储介质,存储有程序指令,所述程序指令在运行时,执行如上述的用于对寄存器进行验证的方法。
本公开实施例提供的用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质,可以实现以下技术效果:通过获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限;根据寄存器参数和访问权限生成验证激励;按照验证激励对寄存器进行验证,获得验证结果。这样,能够自动对寄存器进行验证,不需要人工对寄存器进行验证,提高了对寄存器进行验证的效率。
以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的,不用于限制本申请。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明,这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件,附图不构成比例限制,并且其中:
图1是本公开实施例提供的一个用于对寄存器进行验证的方法的示意图;
图2是本公开实施例提供的另一个用于对寄存器进行验证的方法的示意图;
图3是本公开实施例提供的另一个用于对寄存器进行验证的方法的示意图;
图4是本公开实施例提供的一个汇总表格的示意图;
图5是本公开实施例提供的一个用于对寄存器进行验证的装置的示意图;
图6是本公开实施例提供的一个电子设备的示意图。
具体实施方式
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