[发明专利]陶瓷外壳电源地电阻的测试方法

权利要求书

1.一种陶瓷外壳电源地电阻的测试方法，陶瓷外壳包括一陶瓷底座，其中所述陶瓷底座上设有一密封腔，在所述密封腔内设有多个键合指、所述陶瓷底座的下表面设有与所述键合指对应电连接的焊盘，其特征在于，陶瓷外壳电源地电阻的测试方法包括以下步骤：

选取其中的2个以上键合指作为测试用键合指，并将所述测试用键合指电连接至一第一金属片表面；

选取与所述测试用键合指相对应电连接的焊盘植锡球，并将所述锡球与第二金属片表面键合；

测试所述第一金属片和所述第二金属片之间的电阻，得到电源地电阻。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试所述第一金属片和所述第二金属片之间的电阻，得到电源地电阻，包括：

在所述第一金属片的表面上焊接第一引线；

在所述第二金属片的表面上焊接第二引线；

分别测试所述第一引线和所述第二引线之间的电阻值，计算得到电源地电阻。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述分别测试所述第一引线和所述第二引线之间的电阻值，计算得到电源地电阻，包括：

采用四线测试夹具或两线测试夹具分别固定在所述第一引线和所述第二引线上，测试得到第一电阻值；

测试所述第一引线的电阻，得到第一引线电阻值；

测试所述第二引线的电阻，得到第二引线电阻值；

基于所述第一电阻值、所述第一引线电阻值和所述第二引线电阻值，确定所述电源地电阻值。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述电源地电阻值为所述第一电阻值与所述第一引线电阻值以及所述第二引线电阻值的差值。

5.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，还包括：采用精密电阻测试仪测试所述第一金属片和所述第二金属片之间的电阻，得到电源地电阻。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述精密电阻测试仪的最小量程为0.01毫欧。

7.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述第一金属片包括相对设置的第一表面和第二表面，其中所述测试用键合指电连接至一第一金属片表面，包括：

将所述第一金属片设置在所述密封腔内，其中第一金属片的第一表面朝向所述密封腔；

采用金丝将所述测试用键合指连接到所述第一金属片的第二表面；

其中，所述第一引线从所述第一金属片的第二表面引出。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述第一金属片的大小与所述陶瓷底座密封腔的大小相匹配。

9.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述第二金属片包括相对设置的第一表面和第二表面；其中，所述测试用键合指相对应电连接的焊盘植锡球，并将所述锡球与第二金属片表面键合，包括：

将所述测试用键合指相对应电连接的焊盘植锡球，并将所述第二金属片的第一表面与所述锡球键合；其中，所述第二引线从所述第二金属片的第二表面引出。

10.如权利要求1至9任一项所述的测试方法，其特征在于，所述第一金属片和所述第二金属片均为铜片。