[发明专利]一种基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法有效

专利信息
申请号: 202111661614.0 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114211069B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 汉晶;孟洲;郭福;马立民;晋学轮;李子萱;李腾;贾强;周炜;王乙舒 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: B23K1/00 分类号: B23K1/00;B23K1/20;B23K3/08;B23K35/02;B23K35/28
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理有限公司 11562 代理人: 许佳
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 imc 多晶 结构 制取 方法
【权利要求书】:

1.一种基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法,其特征在于,包括如下步骤:

获取多系焊球和待焊电路板;所述多系焊球由Sn-Ag-Bi-In系焊料制作;

对所述多系焊球和所述待焊电路板进行焊球焊接操作,得到PCB凸焊点;将制取的多系焊球放在PCB板表面的铜片上并用热风焊设备加热使焊球重熔并与PCB板上的铜片结合,重熔温度为245℃,重熔时间为30s,随炉冷却30s,得到PCB凸焊点;

对所述PCB凸焊点进行老化处理,得到改性凸焊点;所述老化处理的方法包括:将得到PCB凸焊点放入恒温加热炉中保温10天,炉内温度为150℃,对其进行老化处理,得到改性凸焊点;

对所述改性凸焊点进行腐蚀处理,得到IMC焊盘;所述腐蚀处理的方法包括:使用硝酸-乙醇-水溶液,体积比1:1:8的硝酸醇溶液对制取的凸焊点进行腐蚀处理,并通过金相显微镜实时观察,以保证腐蚀完所有Sn,并只保留Cu-Sn界面处的IMCs,得到IMC焊盘;

对所述多系焊球和所述IMC焊盘进行焊球焊接操作,得到多晶结构焊点;在制取的PCB板铜片上仅剩IMC焊盘表面涂覆助焊剂,再取多系焊球放在IMC焊盘上并用热风焊设备进行焊球焊接操作,通过加热使多系焊球重熔并与IMC焊盘结合,重熔温度为245℃,重熔时间为30s,随炉冷却30s;

将冷却后的焊点倒置与已涂覆好助焊剂的PCB板平行且完全对齐放置,再次使用热风焊设备加热使多系焊球重熔,并保证与IMC焊盘和PCB板结合,重熔温度为245℃,重熔时间为30s,设备冷却30s,得到多晶结构焊点。

2.根据权利要求1所述的基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法,其特征在于,获取所述多系焊球的方法还包括:

在超声波环境下,使用有机溶剂对所述多系焊球进行清洁处理。

3.根据权利要求2所述的基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法,其特征在于,所述有机溶剂包括丙酮和乙醇。

4.根据权利要求1所述的基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法,其特征在于,获取所述待焊电路板的方法包括:在超声波环境下,使用有机溶剂清洗用于焊接的电路板表面,并在所述电路板表面涂覆助焊剂,得到所述待焊电路板。

5.根据权利要求1所述的基于IMC焊盘的多晶结构焊点制取方法,其特征在于,所述焊球焊接操作的温度条件为220-270摄氏度。

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