[发明专利]辐射检查系统在审

专利信息
申请号: 202111668939.1 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114152993A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 樊旭平;宋全伟;史俊平;何远;孟辉 申请(专利权)人: 同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01N23/04
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 颜镝
地址: 101500 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:

辐射源(10),具有加速器靶点(11);和

探测器臂,包括臂体(20)和多个探测器模块(30),所述多个探测器模块(30)沿所述臂体(20)的长度方向在所述臂体(20)上排布,每个探测器模块(30)包括电路板(31)和安装在所述电路板(31)上的多个探测器晶体(32),所述每个探测器模块(30)中的所述多个探测器晶体(32)的安装方向相互平行,并且沿所述电路板(31)上的参考直线(R)排布且相对于所述参考直线(R)呈预设夹角,所述多个探测器模块(30)对应至少两种不同的预设夹角。

2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,所述多个探测器模块(30)包括多个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f),至少一个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)包括相邻设置的多个相同的探测器模块(30),所述多个相同的探测器模块(30)中的每个探测器模块(30)对应的预设夹角不同于其他至少一个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)对应的预设夹角。

3.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,所述多个相同的探测器模块(30)相对于所述臂体(20)呈不同的安装角度,以使所述多个相同的探测器模块(30)中的每个探测器模块(30)的至少部分探测器晶体(32)沿安装方向的延长线(12)通过所述加速器靶点(11)。

4.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,每个探测器模块(30)的电路板(31)呈平行四边形,且所述平行四边形的第一侧边(L1)作为所述电路板(31)上的参考直线(R)与所述多个探测器晶体(32)的安装方向呈预设夹角。

5.根据权利要求4所述的辐射检查系统,其特征在于,所述平行线四边形中与所述第一侧边(L1)相邻的两个相对的第二侧边(L2)和第三侧边(L3)均与所述多个探测器晶体(32)的安装方向平行。

6.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,每个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)中的多个探测器模块(30)沿所述臂体(20)的长度方向依次相邻设置。

7.根据权利要求6所述的辐射检查系统,其特征在于,所述臂体(20)包括:

竖臂体(21),被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时竖直设置,

其中,排布在所述竖臂体(21)上,且位于所述加速器靶点(11)所在水平面以上的各个探测器模块组分别对应的预设夹角沿竖直方向向上逐渐减小。

8.根据权利要求7所述的辐射检查系统,其特征在于,所述臂体(20)还包括:

横臂体(22),被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时水平设置,

其中,排布在所述横臂体(22)上的各个探测器模块组分别对应的预设夹角沿远离所述加速器靶点(11)的水平方向逐渐减小。

9.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述臂体(20)包括第一臂体段和第二臂体段,所述多个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)包括位于所述第一臂体段的至少两个探测器模块组和位于所述第二臂体段的至少两个探测器模块组,位于所述第一臂体段的至少两个探测器模块组的组间距离小于位于所述第二臂体段的至少两个探测器模块组的组间距离。

10.根据权利要求9所述的辐射检查系统,其特征在于,所述第一臂体段的长度方向和所述第二臂体段的长度方向平行,所述第一臂体段与所述加速器靶点(11)在所述第一臂体段的长度方向上的距离小于所述第二臂体段与所述加速器靶点(11)在所述第二臂体段的长度方向上的距离。

11.根据权利要求9所述的辐射检查系统,其特征在于,所述臂体(20)包括:

竖臂体(21),具有所述第一臂体段,且被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时竖直设置;和

横臂体(22),具有所述第二臂体段,且被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时水平设置。

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