[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

提取待检测图像中目标物体的第一图像特征；

根据所述第一图像特征与第二图像特征的相似性，在包含标准图像的数据库中筛选预设数量的目标标准图像，其中，所述第二图像特征为所述标准图像中指定物体的图像特征；

针对所述待检测图像中的每一个像素位置，提取该像素位置的第一金字塔特征和所述目标标准图像中参照位置的第二金字塔特征，其中，所述待检测图像与所述目标标准图像的尺寸相同，且所述参照位置在其对应的所述目标标准图像中的坐标与该像素位置在所述待检测图像中的坐标相同；

根据所述第一金字塔特征和所述第二金字塔特征，确定所述待检测图像中所述目标物体的缺陷位置。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像特征与第二图像特征的相似性，在包含标准图像的数据库中筛选预设数量的目标标准图像，包括：

在所述数据库中选择至少一组候选图像组，所述候选图像组包括所述预设数量的候选图像；

对于每组所述候选图像组，分别计算所述第一图像特征和该组候选图像组中各所述候选图像的第二图像特征的第一差距值；

计算所有所述第一差距值的第一平均值；

在所有所述第一平均值中筛选最小的第一平均值，以将所述最小的第一平均值对应的候选图像组中的候选图像确定为所述目标标准图像。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一金字塔特征和所述第二金字塔特征，确定所述待检测图像中所述目标物体的缺陷位置，包括：

根据所述第一金字塔特征和所述第二金字塔特征，计算该像素位置的缺陷得分；

判断所述缺陷得分是否满足预设条件；

若所述缺陷得分满足所述预设条件，将该像素位置确定为所述缺陷位置。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一金字塔特征和所述第二金字塔特征，计算该像素位置的缺陷得分，包括：

分别计算所述第一金字塔特征和各所述第二金字塔特征的第二差距值；

计算所有所述第二差距值的第二平均值，以将所述第二平均值确定为所述缺陷得分。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述判断所述缺陷得分是否满足预设条件，包括：

判断所述缺陷得分是否大于预设阈值；

若所述缺陷得分大于所述预设阈值，则所述缺陷得分满足所述预设条件。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述提取该像素位置的第一金字塔特征和所述目标标准图像中参照位置的第二金字塔特征前，所述方法还包括：

分别计算所述待检测图像和所述目标标准图像的背景区域的模糊度得分，所述背景区域为图像中除物体外的区域；

判断所述模糊度得分是否大于模糊阈值；

若所述模糊度得分大于所述模糊阈值，删除所述背景区域。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述缺陷位置之间的距离，对所述缺陷位置进行聚合处理，以将所述距离小于预设距离的缺陷位置构成的集合作为所述目标物体的缺陷区域。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一提取模块，用于提取待检测图像中目标物体的第一图像特征；

筛选模块，用于根据所述第一图像特征与第二图像特征的相似性，在包含标准图像的数据库中筛选预设数量的目标标准图像，其中，所述第二图像特征为所述标准图像中指定物体的图像特征；

第二提取模块，用于针对所述待检测图像中的每一个像素位置，提取该像素位置的第一金字塔特征和所述目标标准图像中参照位置的第二金字塔特征，其中，所述待检测图像与所述目标标准图像的尺寸相同，且所述参照位置在其对应的所述目标标准图像中的坐标与该像素位置在所述待检测图像中的坐标相同；

确定模块，用于根据所述第一金字塔特征和所述第二金字塔特征，确定所述待检测图像中所述目标物体的缺陷位置。