[发明专利]一种虚端子回路校核方法、装置和终端设备

权利要求书

1.一种虚端子回路校核方法，其特征在于，应用于终端设备，所述方法包括：

接收待校核变电站的配置描述文件；

从所述配置描述文件中提取所述待校核变电站的系统规格描述信息和二次设备的设备名称；

根据所述系统规格描述信息，确定所述待校核变电站的第一拓扑结构；

根据所述设备名称，确定所述待校核变电站的第二拓扑结构；

若所述第一拓扑结构和所述第二拓扑结构相同，则确定所述第一拓扑结构中每个二次设备对应的虚端子回路；

采用预设的虚端子回路校验规则，对所述虚端子回路进行校核；

根据所述虚端子回路的校核结果，生成所述待校核变电站的校核报告。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述系统规格描述信息包括所述待校核变电站中的二次设备的电压等级以及连接的间隔对象和一次设备，所述根据所述系统规格描述信息，确定所述待校核变电站的第一拓扑结构，包括：

根据多个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备，构建所述第一拓扑结构。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设备名称包括多个字符，所述根据所述设备名称，确定所述待校核变电站的第二拓扑结构，包括：

根据所述设备名称和所述二次设备的命名规则，对所述设备名称进行解析，得到所述字符对应的配置信息；

根据所述字符对应的配置信息，构建所述第二拓扑结构。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述字符对应的配置信息，构建所述第二拓扑结构，包括：

根据所述字符对应的配置信息，确定所述二次设备的电压等级以及连接的间隔对象和一次设备；

根据多个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备，构建所述第二拓扑结构。

5.如权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述若所述第一拓扑结构和所述第二拓扑结构相同，则确定所述第一拓扑结构中每个二次设备对应的虚端子回路，包括：

将所述第一拓扑结构中每个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备分别与所述第二拓扑结构中每个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备进行比对；

若所述第一拓扑结构中每个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备分别与所述第二拓扑结构中每个所述二次设备的电压等级、间隔对象和一次设备均相同，则从所述配置描述文件中获取所述二次设备的设备能力描述文件；

根据所述设备能力描述文件和所述第一拓扑结构，确定所述虚端子回路。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述采用预设的虚端子回路校验规则，对所述虚端子回路进行校核，包括：

调用预设的回路连接规则库对所述虚端子回路的连接关系进行回路校核；

若所述虚端子回路通过所述回路校核，则从所述虚端子回路中确定单条虚端子信息；

采用预设的装置虚端子回路连接规则库，对所述单条虚端子信息进行校核。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述虚端子回路未通过所述回路校核，则输出校验出错结果报告；

确定该变电站的虚端子回路未通过校核。

8.一种虚端子回路校核装置，其特征在于，应用于终端设备，所述装置包括：

接收模块，用于接收待校核变电站的配置描述文件；

提取模块，用于从所述配置描述文件中提取所述待校核变电站的系统规格描述信息和二次设备的设备名称；

第一拓扑结构确定模块，用于根据所述系统规格描述信息，确定所述待校核变电站的第一拓扑结构；

第二拓扑结构确定模块，用于根据所述设备名称信息，确定所述待校核变电站的第二拓扑结构；

比较模块，用于若所述第一拓扑结构和所述第二拓扑结构相同，则确定所述第一拓扑结构中每个二次设备对应的虚端子回路；

校核模块，用于采用预设的虚端子回路校验规则，对所述虚端子回路进行校核；

报告生成模块，用于根据所述虚端子回路的校核结果，生成所述待校核变电站的校核报告。