[发明专利]一种回归测试方法、装置、设备及介质在审
申请号: | 202111681752.5 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN116414683A | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 张超;刘耀东;宁锐;胡元港;万鑫;谭艳华;彭国刊;刘杰;王孟飞;郑世豪 | 申请(专利权)人: | 北京字跳网络技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 吴崇 |
地址: | 100190 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 回归 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
本公开实施例涉及一种回归测试方法、装置、设备及介质,其中该方法包括:获取目标应用程序的待测组件,待测组件为目标应用程序的代码进行组件化之后的多个组件中的任意一个;确定待测组件的组件类型,并根据组件类型确定对应的回归测试策略;采用待测组件的回归测试策略对待测组件的变更部分进行回归测试。采用上述技术方案,将应用程序的代码的多个组件根据组件类型确定其对应的回归测试策略,并采用不同的回归测试策略对组件的变更部分进行回归测试,实现了通用的多策略精准回归测试,既能够保障质量不劣化,而且节省了回归测试的人力成本,极大提升了回归测试的效率。
技术领域
本公开涉及计算机技术领域,尤其涉及一种回归测试方法、装置、设备及介质。
背景技术
随着智能终端的发展,各类应用程序出现了爆发式的增长,人们也越来越多地使用应用程序满足日常生活中的所需。为了保障应用程序的质量,每次升级新版本之前都会进行功能的回归测试,从而避免新的改动引入问题。
回归测试通常是进行全量回归,随着应用程序的迭代功能越来越多,迭代速度越来越快,短时间内实现全量回归测试比较困难。相关技术中可以通过对更新的部分进行回归测试,缩减回归范围,但是由于测试用例本身侧重交互效果的特性,依然存在测试准确性不高以及效率较低的问题。
发明内容
为了解决上述技术问题,本公开提供了一种回归测试方法、装置、设备及介质。
本公开实施例提供了一种回归测试方法,所述方法包括:
获取目标应用程序的待测组件,所述待测组件为所述目标应用程序的代码进行组件化之后的多个组件中的任意一个;
确定所述待测组件的组件类型,并根据所述组件类型确定对应的回归测试策略;
采用所述待测组件的回归测试策略对所述待测组件的变更部分进行回归测试。
本公开实施例还提供了一种回归测试装置,所述装置包括:
组件模块,用于获取目标应用程序的待测组件,所述待测组件为所述目标应用程序的代码进行组件化之后的多个组件中的任意一个;
类型模块,确定所述待测组件的组件类型,并根据所述组件类型确定对应的回归测试策略;
测试模块,用于采用所述待测组件的回归测试策略对所述待测组件的变更部分进行回归测试。
本公开实施例还提供了一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;用于存储所述处理器可执行指令的存储器;所述处理器,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现如本公开实施例提供的回归测试方法。
本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行如本公开实施例提供的回归测试方法。
本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点:本公开实施例提供的回归测试方案,获取目标应用程序的待测组件,待测组件为目标应用程序的代码进行组件化之后的多个组件中的任意一个;确定待测组件的组件类型,并根据组件类型确定对应的回归测试策略;采用待测组件的回归测试策略对待测组件的变更部分进行回归测试。采用上述技术方案,将应用程序的代码的多个组件根据组件类型确定其对应的回归测试策略,并采用不同的回归测试策略对组件的变更部分进行回归测试,实现了通用的多策略精准回归测试,既能够保障质量不劣化,而且节省了回归测试的人力成本,极大提升了回归测试的效率。
附图说明
结合附图并参考以下具体实施方式,本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的,原件和元素不一定按照比例绘制。
图1为本公开实施例提供的一种回归测试方法的流程示意图;
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