[实用新型]光电二极管成像阵列的读出电路

权利要求书

1.光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，包括接入光电二极管阵列输出信号的多积分器通道，在每个积分器通道中，积分器输出依次串联采样保持电路、SUBADC、MUX开关，采样保持电路采样积分器输出，SUBADC将积分器输出粗量化产生高位数字输出信号，在MUX逻辑电路控制下，采样保持电路输出、SUBADC粗量化输出和残差放大器输入端连接，残差放大器输出接后级ADC；

每个积分器通道SUBADC输出的粗量化结果经过MUX开关的逻辑控制输出到残差放大器DAC，积分器的采样保持输出电压和残差放大器DAC输出电压之差被残差放大器放大，放大后的残余电压信号接入后级ADC输出残余电压数字信号，残余电压数字信号为低位数字输出信号，高位数字输出信号和低位数字输出信号组合为读出电路的ADC输出信号。

2.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，采样保持电路包括采样开关SW1、采样开关SW2和采样开关SWs、采样电容CSp和采样电容CSn，采样电容CSn采样积分器通道内的复位电压，采样电容CSp采样积分器通道内的信号电压，同时积分器通道内的复位电压与信号电压之差接入SUBADC进行粗量化处理；

其中，在采样开关SW1为高电平时，SWs和SW1开启，SW2断开，采样电容CSn采样积分器通道内的复位电压，在采样开关SW2为高电平时，SWs和SW2开启，SW1断开，采样电容CSp采样积分器通道内的信号电压，在SW1和SW2均为高电平时，SUBADC对复位电压和信号电压采样，并将复位电压和信号电压之差转换成数字信号，SUBADC进行粗量化处理结果为高位数字输出信号。

3.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，还包括ADC_CLK，ADC_CLK用于MUX开关的逻辑控制，在ADC_CLK的高电平，SUBADC的高位数字输出与残差放大器DAC连接，同时后级ADC将上一次的残差放大器输出结果转换成数字信号；在ADC_CLK的低电平，积分器的采样保持电压和残差放大器DAC电压之差被残差放大器放大输出，并且被后级ADC采样。

4.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，所述残差放大器DAC包括DACP、DACN、残差放大器OP和反馈电容Cf；

DACP和DACN构成差分DAC，SUBADC输出经过MUX开关和DAC输入端连接，残差放大器OP和反馈电容Cf用于将积分器的采样保持电压和差分DAC的输出电压相减得到的残余电压进行放大输出；

所述得到的残余电压进行放大输出信号接入后级ADC得到低位数字输出信号。

5.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，所述SUBADC的位数为3位或4位或5位。

6.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，所述SUBADC的结构包括SAR ADC结构。

7.根据权利要求1所述的光电二极管成像阵列的读出电路，其特征在于，所述后级ADC包括SAR ADC。