[实用新型]短焦距非接触自动测试跳线

说明书

本实用新型号提供一种短焦距非接触自动测试跳线，包括测试跳线产品、测试跳线套管，测试跳线套管设于测试跳线产品内、非接触跳线短焦距测试装置，所述非接触跳线短焦距测试装置包括定位插芯、短焦准直透镜单元；光纤透镜采用胶固的方式在定位插芯内固定.实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。

技术领域：

本实用新型涉及通信技术领域，主要是涉及一种光纤跳线的测试，特别是一种短焦距非接触自动测试跳线。

背景技术：

光纤通信技术已广泛应用于各个领域，随着传输速率和距离的提高，光纤通质量和光纤端面质量的要求也越来越高。现有光纤对接与原有电缆对接有很大不同，电缆只要接触良好即可，而光纤端面对接需要在上下、左右、前后、倾角等方面做严格的控制，才能达到很好的插损要求。由于光纤真正用于通光的部分尺寸较小，基本在微米量级，不方便对接操作，实际使用中常需要在光纤外加装配对接装置。或者是采用接触式对接方式进行光纤测试跳线的对接。

传统的测试跳线在现实测试作业过程中，为保证测试损耗尽量小且可控,均采用接触测试的方法，但接触测试带来的现实管控风险非常高，受脏污等外界因素影响,往往容易因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤和脏污，如果采用其他的专用的测试设备，不仅设备价格高，且操作困难，难以保证产品质量和生产周期，并且也会大幅度增加加工成本，而且质量得不到保证。

中国专利公告号为CN1106327019A《一种非接触式无损光纤跳线及制作方法》，具体公开了一种非接触式无损光纤跳线及制作方法，包括陶瓷插芯、适配器金属外壳、陶瓷套筒、适配器段插芯、光纤，所述陶瓷插芯和适配器段插芯的内部预埋光纤，陶瓷插芯和适配器段插芯的一端对接，所述陶瓷插芯和适配器段插芯对接处的外部套设有陶瓷套筒，所述陶瓷套筒置于适配器金属外壳内，其特征在于：所述陶瓷插芯的端面沿光纤的外围设置有环形凹槽。本实用新型的优点是实现了跳线与跳线，跳线与适配器中光纤端面之间的非接触式对准，避免了光纤端面的对接损伤。从上述所公开的技术方案可以看出，其是不能实现光线的自动聚焦对接，其是对现有的跳线对接设备的改进，且装置结构复杂，制备成本高。

还有如专利公告号为CN111089706A《多通道光学测试仪》，其具体公开的多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。

从上述所公开的光纤跳线的技术方案可以看出，现有的技术要么就是增加一个跳线对接的测试设备，要么就是对现有的跳线进行改进，但是其均不能提供对跳线的测试既可防止对插芯端面损伤或测试产品端面损伤，同时又能防止对对跳线的接触面污损。

因此，如何来提供一种非接触短焦距的可自动测试的跳线，在光纤跳线对接过程中，采用非接触测试跳线的方法，从而防止对因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤与污损的现实问题。且测试跳线测试方法简单，实用性强，成本低。

实用新型内容：

本实用新型的目的就是要提供一种短焦距非接触自动测试跳线，包括测试跳线产品、测试跳线套管，测试跳线套管设于测试跳线产品内、非接触跳线短焦距测试装置，所述非接触跳线短焦距测试装置包括定位插芯、短焦准直透镜单元；光纤透镜采用胶固的方式在定位插芯内固定.实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。