[实用新型]一种交流输入检测电路和电子设备

权利要求书

1.一种交流输入检测电路，其特征在于，包括：用于提供直流电压的直流供电单元，包含第一输入端和第二输入端的交流电源输入端，连接所述第二输入端的电压提取单元，连接所述电压提取单元的第一开关单元，其中，所述第一输入端用于连接交流工作电路，所述第二输入端用于经所述电压提取单元连接所述交流工作电路，所述电压提取单元用于在所述第一开关单元导通时生成与交流输入对应的驱动电压；以及

连接所述第一开关单元，并被配置为用于输出第一开关控制电平以控制所述第一开关单元导通或关断的控制单元；

连接所述电压提取单元和所述第一输入端，用于接收所述驱动电压以开通或关断的第二开关单元；

连接所述第二开关单元、用于记录所述第二开关单元导通的实际持续导通时长的计时单元；

用于存储所述第二开关单元导通的预设持续导通时长与交流输入电压对应关系的存储单元；

连接所述计时单元和所述存储单元，并被配置为获取所述实际持续导通时长并从所述存储单元中获取对应的交流输入电压的处理单元。

2.根据权利要求1所述的交流输入检测电路，其特征在于，所述电压提取单元包括分压电路和第一子开关；

所述分压电路的第一端连接所述第二输入端，所述分压电路的第二端连接所述第一子开关的第一端、所述第一开关单元和所述第二开关单元，所述第一子开关的第二端用于连接所述交流工作电路，所述第一子开关的第三端连接所述第一开关单元。

3.根据权利要求2所述的交流输入检测电路，其特征在于，所述第一开关单元包括第二子开关和第一隔离开关；所述第二子开关的第一端连接控制单元，所述第二子开关的第二端连接所述直流供电单元，所述第二子开关的第三端连接所述第一隔离开关的第二端，所述第一隔离开关的第一端连接所述直流供电单元，所述第一隔离开关的第三端连接所述第一子开关的第三端，所述第一隔离开关的第四端连接所述分压电路的第二端；和/或

所述第二开关单元包括第三子开关和第二隔离开关；所述第三子开关的第一端连接第二输入端，所述第三子开关的第二端连接所述分压电路的第二端，所述第三子开关的第三端连接所述第二隔离开关的第一端，所述第二隔离开关的第二端连接所述第二输入端，所述第二隔离开关的第三端接地，所述第二隔离开关的第四端连接所述计时单元。

4.根据权利要求3所述的交流输入检测电路，其特征在于，所述第一子开关包括可控硅开关TR1，所述可控硅开关TR1的A1管脚连接所述交流工作电路，所述可控硅开关TR1的A2管脚连接所述分压电路，所述可控硅开关TR1的G管脚连接所述第一隔离开关；和/或

所述分压电路包括电阻R11和电阻R12，所述电阻R11和所述电阻R12并联连接后一端连接所述第二输入端、另一端连接所述第一子开关的第一端和所述第三子开关的第二端。

5.根据权利要求3所述的交流输入检测电路，其特征在于，

所述第二子开关包括三极管Q1和电阻R2；所述三极管Q1的基极连接所述控制单元，所述三极管Q1的基极经所述电阻R2接地，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极连接所述直流供电单元和所述第一隔离开关；和/或

所述第一隔离开关包括可控硅隔离芯片IC1、电阻R3、电阻R4和电阻R5，所述可控硅隔离芯片IC1的第一管脚连接所述直流供电单元，所述可控硅隔离芯片IC1的第二管脚经所述电阻R3连接所述三极管Q1的集电极，所述可控硅隔离芯片IC1的第六管脚经串联连接的所述电阻R5和电阻R4连接所述分压电路的第二端。

6.根据权利要求3所述的交流输入检测电路，其特征在于，

所述第三子开关包括MOS管Q2、电阻R6、电阻R7和电阻R10；所述MOS管Q2的栅极经所述电阻R10连接所述分压电路的第二端，所述MOS管Q2的源极连接所述第二输入端，所述MOS管Q2的漏极经串联连接的所述电阻R6和电阻R7连接所述第一输入端，且所述MOS管Q2的漏极连接所述第二隔离开关的第一端；和/或

所述第二隔离开关包括光耦芯片U2，所述光耦芯片U2的第一管脚连接所述MOS管Q2的漏极，所述光耦芯片U2的第二管脚连接所述第二输入端，所述光耦芯片U2的第三管脚接地，所述光耦芯片U2的第四管脚连接所述计时单元。