[实用新型]一种晶圆加工的载物台有效
申请号: | 202120047222.4 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN214043621U | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 夏华忠;黄传伟;李健;诸建周;吕文生;谈益民 | 申请(专利权)人: | 江苏东海半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷红梅;胡家铭 |
地址: | 214142 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加工 载物台 | ||
本实用新型公开了一种晶圆加工的载物台,包括台体,台体中心螺纹连接中心调整螺栓,中心调整螺栓外周设有若干周部调整螺栓,周部调整螺栓布置第一真空槽和第二真空槽,第一真空槽与第二真空槽之间设有镊子取物口,台体为圆形。本实用新型结构简单,易于实现,成本较低;只有在晶圆的边缘和中心部位有支撑和接触;中间的支撑柱高度可以调整;除了中间和边缘区域以外为镂空区域,不和晶圆接触。
技术领域
本实用新型属于半导体材料生产技术领域,更具体地说,是涉及一种晶圆加工的载物台。
背景技术
近些年,集成电路产业迅速发展,各种材料的晶圆产量日益剧增。对晶圆质量和性能的测试是集成电路产业链中必不可少的环节。随着工艺水平的提升,器件性能不断提升,对器件指标的要求也越来越高。相应地,对测试设备的要求也越来越高,而测试设备的载物台对于测试的准确性有很大影响。
发明内容
本实用新型的目的就是要解决上述背景技术的不足,提供一种晶圆加工的载物台,以达到提高测试的准确性的目的。
按照本实用新型提供的技术方案:一种晶圆加工的载物台,包括台体,所述台体中心螺纹连接中心调整螺栓,所述中心调整螺栓外周设有若干周部调整螺栓,所述周部调整螺栓布置第一真空槽和第二真空槽,所述第一真空槽与所述第二真空槽之间设有镊子取物口。
作为本实用新型的进一步改进,所述台体为圆形。
作为本实用新型的进一步改进,所述中心调整螺栓顶部均为抛光圆弧面。
作为本实用新型的进一步改进,所述周部调整螺栓顶部均为抛光圆弧面。
作为本实用新型的进一步改进,所述台体上同轴心圆环均布若干所述周部调整螺栓。
作为本实用新型的进一步改进,所述台体上同轴心圆弧布置第一真空槽和第二真空槽。
作为本实用新型的进一步改进,所述第一真空槽和所述第二真空槽中均竖直开有吸孔,并连接抽真空设备。
作为本实用新型的进一步改进,所述镊子取物口低于所述第一真空槽和所述第二真空槽。
本实用新型与现有技术相比,具有如下优点:
本实用新型结构简单,易于实现,成本较低;只有在晶圆的边缘和中心部位有支撑和接触;中间的支撑柱高度可以调整;除了中间和边缘区域以外为镂空区域,不和晶圆接触。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为图1的侧视剖视图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步的说明。
图1-2中,包括台体1、中心调整螺栓2、周部调整螺栓3等。
如图1-2所示,本实用新型是一种晶圆加工的载物台,包括台体1,台体1中心螺纹连接中心调整螺栓2,中心调整螺栓2外周设有若干周部调整螺栓3,周部调整螺栓3布置第一真空槽4和第二真空槽5,第一真空槽4与第二真空槽5之间设有镊子取物口6。
台体1为圆形,可以节约材料,同时避免锐角发生磕碰。
中心调整螺栓2的高度可调,用于支撑晶圆的中心部位。
周部调整螺栓3的高度可调,用于水平方向支撑和固定晶圆。
中心调整螺栓2、周部调整螺栓3顶部均为抛光圆弧面,避免划伤晶圆,
台体1上同轴心圆环均布若干周部调整螺栓3。这样可以保证晶圆在调整过程中,不发生扭转变形。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造