[实用新型]一种微小间距压接检测用弹性扁平探针及检测工具

说明书

本实用新型公开了一种微小间距压接检测用弹性扁平探针及检测工具，该探针包括：第一连接部，沿着探针的长度方向延伸；第一接触部的一端与第一连接部相连，另一端具有延伸方向与第一接触部的延伸方向交叉的第一触点部；第二连接部的一端与第一连接部相连，第二连接部与第一接触部位于第一连接部的同一侧；第二接触部的一端与第二连接部的另一端连接，另一端具有延伸方向与第二接触部的延伸方向相交叉的第二触点部；第二、第一接触部分别位于第二连接部的不同侧，并可在各自端部的触点部与外部对象接触受力时沿着靠近第二连接部的方向变形。本实用新型能够确保针对检查对象物和检查装置的接触可靠性、并且能够适用于微小间距产品的压接测试。

技术领域

本实用新型属于信号传输及测试技术领域，更具体地，涉及一种产品微小间距的压接检测所用的弹性扁平探针及检测工具。

背景技术

在液晶面板、集成电路、半导体等电子部件模块的制造工序中，往往需要进行导通检测和动作特性检查等过程，这通常需要使用探针将将电子部件模块的主体基板与柔性电路板（Flexible Printed Circuit ，FPC）的接触电极对应连接，或者将主体基板的电极部与检查装置对应连接，测试时，探针的一端直接与被测产品主体基板上的金手指接触，另一端与转接PCB、FPC上的Pad点接触，通过PCB、FPC的转接将电子部件模块与检查装置连接起来，由此形成通路，进而完成相应的检测工作。

通常情况下，常用的探针需要具备能够与被测产品上的金手指和转接PCB、FPC上的Pad点分别接触的一对触头，此对触头受力后可以产生弹性形变，确保触头与被测产品上的金手指和转接PCB、FPC上的Pad点之间的接触压力，提高针对被测产品上的金手指和转接PCB、FPC上的Pad点的接触可靠性。

随着集成电路、半导体等产品的小型化、集成化设计，产品上供压接测试的金手指间距越来越小，常规的扁平探针的结构形式已不能适用此种检测要求。

实用新型内容

针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本实用新型提供了一种微小间距压接检测用弹性扁平探针及检测工具，能够确保针对检查对象物和检查装置的接触可靠性、并且能够适用于微小间距产品的压接测试。

为实现上述目的，按照本实用新型的一个方面，提供了一种微小间距压接检测用弹性扁平探针，包括：

第一连接部，其沿着探针的长度方向延伸；

第一接触部，其一端与所述第一连接部的第一端相连，并沿着与所述长度方向交叉的方向进行延伸，另一端具有第一触点部，且所述第一触点部的延伸方向与所述第一接触部的延伸方向交叉；

第二连接部，其一端与所述第一连接部的第二端相连，并沿着与所述长度方向交叉的方向进行延伸，且所述第二连接部与第一接触部位于第一连接部在长度方向上的同一侧；

第二接触部，其一端与所述第二连接部的另一端连接，并沿着靠近第一连接部的方向延伸，另一端具有延伸方向与所述第二接触部的延伸方向相交叉的第二触点部；

所述第二接触部与第一接触部分别位于第二连接部的不同侧，并可在各自端部的触点部与外部对象接触受力时分别沿着靠近第二连接部的方向变形。

优选的，上述微小间距压接检测用弹性扁平探针，所述第一接触部与第一连接部的连结处设置有限位凸台，所述限位凸台位于第一接触部、第一连接部和第二连接部的围合区域内，其沿着与所述长度方向交叉的方向延伸且与第一接触部之间具有间隙。

优选的，上述微小间距压接检测用弹性扁平探针，所述第一接触部在未受力状态下与限位凸台之间的夹角大于0度小于等于5度。

优选的，上述微小间距压接检测用弹性扁平探针，其特征在于，所述第二接触部在未受力状态下与第二连接部之间的夹角大于0度小于等于5度。