[实用新型]一种纳米孔测序实验台有效
| 申请号： | 202120066582.9 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN214991565U | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘先林;胡岚 | 申请（专利权）人： | 苏州罗岛纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | C12M1/34 | 分类号： | C12M1/34;C12M1/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 孔测序 实验 | ||
1.一种纳米孔测序实验台，其特征在于，包括：
基座；
整机固定基体，所述整机固定基体安装在所述基座上，所述整机固定基体顶端的基板上固定有下液池，且所述下液池上安装有用于连接待测序分子链的玻片；
三维精密位移台及压电促动器，所述三维精密位移台安装在所述整机固定基体上，所述三维精密位移台的横梁上连接有上液池，所述压电促动器安装在所述三维精密位移台上，用于驱动所述三维精密位移台的横梁沿着Z轴上下移动，所述上液池位于所述下液池的上方，所述上液池上固定有开设有纳米孔的芯片；
倒置显微镜，所述倒置显微镜倒置安装在所述基座上，用于观察整个实验过程。
2.根据权利要求1所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，所述基座为光学平台。
3.根据权利要求1所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括下定位板；
所述下定位板安装在所述基板上，用于定位所述下液池。
4.根据权利要求3所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括上定位板；
所述上定位板安装在所述三维精密位移台的横梁上，用于定位所述上液池。
5.根据权利要求4所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括第一屏蔽盒；
所述第一屏蔽盒罩设在所述上液池和所述下液池外，且与所述三维精密位移台连接。
6.根据权利要求5所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括第二屏蔽盒；
所述第二屏蔽盒罩设在所述第一屏蔽盒外，且与所述三维精密位移台连接，用于罩设所述整机固定基体上的膜片钳。
7.根据权利要求6所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，所述第一屏蔽盒为法拉第笼。
8.根据权利要求7所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，所述第二屏蔽盒为法拉第笼。
9.根据权利要求1-8中任意一项所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括X轴驱动螺杆；
所述X轴驱动螺杆安装在所述三维精密位移台上，且与所述三维精密位移台的横梁传动连接。
10.根据权利要求9所述的纳米孔测序实验台，其特征在于，还包括Y轴驱动螺杆；
所述Y轴驱动螺杆安装在所述三维精密位移台上，且与所述三维精密位移台的横梁传动连接。
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