[实用新型]一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备有效
申请号: | 202120078711.6 | 申请日: | 2021-01-12 |
公开(公告)号: | CN214225300U | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 丁志敏;贝武国;杨建设;蒋建斌 | 申请(专利权)人: | 深圳市海思科自动化技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市中兴达专利代理有限公司 44637 | 代理人: | 危祯 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tp oled 产品 一拖二 电容 性能 测试 验证 设备 | ||
1.一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备,其特征在于,包括电容笔(1)、按压Z轴(2)、产品定位夹具(3)、大底板(5)、Z轴固定板(7)、划线X轴(8)、划线Y轴(9);电容笔(1)、按压Z轴(2)、Z轴固定板(7)、划线X轴(8)、划线Y轴(9)组成了按压运动系统,大底板(5)上设置有产品定位夹具(3)和划线Y轴(9),划线Y轴(9),划线Y轴(9)上设置有划线X轴(8),划线X轴(8)上滑动设置有按压Z轴(2);所述的按压Z轴(2)固定在Z轴固定板(7)上,Z轴固定板(7)滑动设置在划线X轴(8)上,划线X轴(8)设置在X轴导轨(14)上,X轴导轨(14)通过支柱(11)设置在大底板(5)上,按压Z轴(2)上设置有电容笔(1);所述的按压Z轴(2)设置有两个。
2.根据权利要求1所述的一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备,其特征在于,所述的划线Y轴(9)设置在Y轴从动导轨(10)上,所述的划线X轴(8)上还设置有X轴拖链(12),所述的划线Y轴(9)上还设置有Y轴拖链(13)。
3.根据权利要求1所述的一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备,其特征在于,所述的产品定位夹具(3)包括第一X轴治具调节组件(15)、第二X轴治具调节组件(16)、第一Y轴治具调节组件(17)、第二Y轴治具调节组件(18)、治具板(4)、转接板安装组件(6)和手动旋钮(19),治具板(4)上放置有产品(20),治具板(4)的X轴方向的两侧边分别设置有第一X轴治具调节组件(15)、第二X轴治具调节组件(16),治具板(4)的Y轴方向的两侧分别设置有第一Y轴治具调节组件(17)、第二Y轴治具调节组件(18),第一X轴治具调节组件(15)、第二X轴治具调节组件(16)、第一Y轴治具调节组件(17)、第二Y轴治具调节组件(18)相互配合处均设置有手动旋钮(19),治具板(4)的左侧设置有转接板安装组件(6)。
4.根据权利要求1所述的一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备,其特征在于,所述的电容笔(1)包括压力反馈元件(21)、电容笔主体(22)和纳米导电笔头(23),电容笔主体(22)两端分别设置有压力反馈元件(21)和纳米导电笔头(23),电容笔主体(22)内部设置有弹力机构。
5.根据权利要求1所述的一种TP、OLED产品的一拖二电容性能测试验证设备,其特征在于,所述的大底板(5)设置在整机机架(25)内,整机机架(25)外部设置有显示器主件(24)。
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