[实用新型]一种芯片IO检测装置

权利要求书

1.一种芯片IO检测装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的底部两侧均固定安装有支架(2)，所述支架(2)的底部固定安装有底块(3)，所述底座(1)的前侧固定安装有控制开关(4)，所述底座(1)的顶部一侧固定安装有立板(5)，所述立板(5)的一侧固定安装有顶板(6)，所述底座(1)的顶部靠近立板(5)的一侧固定安装有检测台(7)，所述检测台(7)的前侧开设有放置口(8)，所述检测台(7)的顶部一侧活动连接有限位板(9)，所述限位板(9)的顶部固定安装有拉块(10)，所述检测台(7)的顶部两侧均固定安装有固定柱(11)，所述固定柱(11)的外侧活动连接有第一减震弹簧(12)，所述第一减震弹簧(12)的顶端固定安装有连接圈(13)，所述固定柱(11)的顶端外侧活动连接有活动板(14)，所述活动板(14)的底部固定安装有控制板(15)，所述控制板(15)的前侧固定安装有显示屏(16)，所述控制板(15)的底部固定安装有安装座(17)，所述安装座(17)的底部固定安装有检测探针(18)；

所述检测台(7)的顶部开设有安装槽(21)，所述安装槽(21)的内底壁固定安装有第二减震弹簧(22)，所述第二减震弹簧(22)的顶端固定安装有放置板(23)，所述放置板(23)的前侧开设有通槽(24)，所述放置板(23)的两侧均固定安装有滑块(25)，所述放置板(23)的顶部开设有放置腔(27)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述底座(1)的一侧开设有电源接口(19)，所述电源接口(19)与外部电源相连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述顶板(6)的一侧通过固定螺钉可拆卸固定在立板(5)的一侧顶部，所述立板(5)与顶板(6)之间呈L形，所述检测台(7)的底部位于底座(1)的内部设置。

4.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述放置口(8)与通槽(24)相对应，所述放置口(8)的开口大小与通槽(24)的开口大小相同，所述通槽(24)与放置腔(27)相贯通。

5.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述限位板(9)的底部与放置腔(27)的内底壁活动连接，所述限位板(9)的宽度与放置腔(27)的宽度相等。

6.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述固定柱(11)的顶端通过固定螺钉可拆卸固定在顶板(6)的底部，所述第一减震弹簧(12)的底端与检测台(7)的顶部相固定，所述第一减震弹簧(12)为阻尼弹簧，所述连接圈(13)与活动板(14)的底部活动连接。

7.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述活动板(14)的顶部开设有通孔(20)，所述通孔(20)与固定柱(11)相适配，所述固定柱(11)的数量有四个，四个所述固定柱(11)呈矩形阵列分布。

8.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述检测探针(18)的数量有多个，多个所述检测探针(18)呈矩形阵列分布，所述检测探针(18)位于放置板(23)的正上方设置。

9.根据权利要求1所述的一种芯片IO检测装置，其特征在于，所述第二减震弹簧(22)的数量有多个，多个所述第二减震弹簧(22)呈矩形阵列分布，所述检测台(7)的内部靠近安装槽(21)的两侧均开设有滑槽(26)，所述滑块(25)与滑槽(26)相适配，所述放置板(23)位于安装槽(21)的内部设置。