[实用新型]测试装置及分选机

说明书

本实用新型提供了一种测试装置及分选机，涉及分选设备技术领域，该测试装置包括测试座、测试件以及测距传感器；测试座上设有用于放置待测产品的容腔；测试件能够相对测试座运动，并对放置在容腔的待测产品进行测试；测距传感器位于容腔的上方，测距传感器用于采集与容腔之间的距离信息，通过将距离信息与预设距离信息比较以获取容腔内有无残留物。该分选机包括测试装置。通过该测试装置，缓解了现有技术中存在的分选机对相机及其测试系统的配置要求较高的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及分选设备技术领域，尤其是涉及一种测试装置及分选机。

背景技术

以测试半导体元件的分选机为例。现有技术中，测试半导体元件的分选机的测试座与测试机电连接。工作时，分选机的载料装置将半导体元件移送至入料位，测试臂在入料位取走半导体元件，并在测试座上对半导体元件进行测试。测试臂对半导体元件完成测试工作后，将半导体元件取走放入出料位，由测试臂将半导体器件移走。此时，有关部件可能发生故障导致测试座的容腔中残留有半导体元件，当新的半导体元件被送至测试座进行测试时，将会发生叠料，影响测试效果，甚至损坏半导体元件和测试座。

为了防止以上现象的发生，目前技术中采用了相机采样并对照片数据分析的方法，判断测试座中有无残留的半导体元件。由于半导体元件的尺寸普遍较小，加上分选机的结构紧凑，测试座区域的光线较暗，因而对相机及其测试系统的配置要求较高，而且相机测试系统成本很高，降低了分选机整机的成本竞争力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试装置及分选机，以缓解现有技术中存在的分选机对相机及其测试系统的配置要求较高的技术问题。

第一方面，本实用新型提供一种测试装置，包括：测试座、测试件以及测距传感器；所述测试座上设有用于放置待测产品的容腔；所述测试件能够相对所述测试座运动，并对放置在所述容腔的待测产品进行测试；所述测距传感器位于所述容腔的上方，所述测距传感器用于采集与所述容腔之间的距离信息，通过将所述距离信息与预设距离信息比较以获取所述容腔内有无残留物。

进一步的，所述测距传感器的位置可调，以使所述测距传感器的光源点落在所述容腔的中心位置。

进一步的，所述测试座的上方设有用于安装所述测距传感器的安装座，所述安装座包括底板和设置于所述底板的调节块；所述测距传感器上设有固定块，所述固定块与所述调节块之间设有位置调节结构。

进一步的，所述位置调节结构包括圆形孔、腰形孔以及穿设于两者之间的连接件；所述固定块和所述调节块两者中的一者设置所述圆形孔，另一者设置所述腰形孔。

进一步的，所述底板上设有多个所述测距传感器，多个所述测距传感器采用矩阵式布置，相应的，所述底板上设置与多个所述测距传感器数量相适配的所述调节块；其中，所述底板、多个所述测距传感器以及多个所述调节块构成测试模组；所述容腔为多个且采用矩阵式布置，所述测试模组的数量与所述容腔的数量相匹配。

进一步的，所述测试模组为至少两组，相邻两组所述测试模组之间留有用于供所述测试件运动的空间。

进一步的，所述容腔和所述测距传感器均为多个，两者的数量相等且位置一一对应。

进一步的，多个所述容腔和多个所述测距传感器均采用矩阵式布置。

进一步的，所述测试座的两侧分别设有载料组件，所述载料组件包括沿第一方向往复移动的入料板和出料板；所述测试件为两组，所述测试件与所述载料组件对应设置，所述测试件用于使待测产品在相应的所述入料板、所述出料板以及所述容腔之间转移。

有益效果：