[实用新型]一种测试弹片

说明书

本实用新型公开了一种测试弹片，包括弹片本体；所述弹片本体包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；所述接触头部与所述受力弯曲部的一端连接；所述受力弯曲部的另一端与所述连接尾部连接；所述接触头部与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试；所述接触头部为锯齿状接触头部，所述受力弯曲部包括第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部；所述第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部依次连接，本实用新型结构简单，使用方便，可靠性高，弹片本体的使用寿命比微针的使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本，具有良好的经济效益。

技术领域

本实用新型涉及测试仪器技术领域，特别地是一种测试弹片。

背景技术

手机和半导体设备等电子产品的接器模组测试一般通过微针连接测试，微针是由针头、弹簧、针管组成，由精密设备制造形成，内部结构精密，表面镀金，广泛应用至手机等电子产品和半导体设备，如LCD、LCM、摄像头的FPC/BTB connector连接器模组测试。由于微针制造、装配工艺复杂和分段式结构，导致成本高，寿命短，测试结果有误差，在使用过程中需经常更换，不便于维护。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提出一种可靠性高，使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本的测试弹片。

本实用新型通过以下技术方案实现的：

一种测试弹片，包括弹片本体；其中：所述弹片本体包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；所述接触头部与所述受力弯曲部的一端连接；所述受力弯曲部的另一端与所述连接尾部连接；所述接触头部与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试。

进一步地，所述接触头部为锯齿状接触头部。

进一步地，所述受力弯曲部包括第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部；所述第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部依次连接。

进一步地，所述连接尾部设置有连接口；所述连接口的一端直径小于另一端直径。

进一步地，所述弹片本体采用精密模具一体制作而成。

本实用新型的有益效果：

本实用新型的弹片本体包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；接触头部与受力弯曲部的一端连接；受力弯曲部的另一端与连接尾部连接；接触头部与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试。测试产品需要测试时，先将测试产品与接触头部接触，测试产品经由受力弯曲部承受压力后，再通过连接尾部与测试仪器连接，完成测试。本实用新型结构简单，使用方便，可靠性高，弹片本体的使用寿命比微针的使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本，具有良好的经济效益。

附图说明

图1为本实用新型实施例测试弹片结构示意图。

附图中：1-弹片本体；11-接触头部；12-受力弯曲部；13-连接尾部；121-第一折弯部；122-第二折弯部；123-第三折弯部；131-连接口。

具体实施方式

下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，在此以本实用新型的示意下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，在此以本实用新型的示意性实施例及说明用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后、上端、下端、顶部、底部……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。