[实用新型]一种热阻测试装置

说明书

本实用新型公开了一种热阻测试装置，包括测试装置主体，测试装置主体由机架、显示器、键盘鼠标操作台、烘箱、工业控制计算机和电源箱组成，所述机架的上端设有台面，所述台面上设有有机玻璃罩，有机玻璃罩内部设有四个温度线，分别标有TC：测管壳温度线、TL：测引线温度线、Ta：小环境温度线、TA：大环境温度线，通过工控计算机的作用生成三个热阻，分别为壳温热阻、小环境热阻、大环境热阻由从而实现对器件进行热阻的测量计算，实现多温度采集，多点计算的特点。

技术领域

本实用新型涉及一种热阻测试装置。

背景技术

随着电子行业的不断发展，半导体分立器件的功率越做越大，使得产品的耗散功率增大。同时由于成本控制的原因，芯片和成品的尺寸都在不断的缩小，在一定程度上又限制了产品的散热。这就造成了产品在测试过程中经常发现热阻不良。

热阻是依据半导体器件PN节在指定电流下两端的电压随温度变化而变化的测试原理，来测试功率器件的热稳定性或封装等的散热特性。通过给被测功率器件施加指定功率，指定施加PN结两端大的电压变化(△VBE/△VF/△VT/△DS/△VGK)作为被测器件的散热依据，并在指定规范值比较，根据检测结果筛选，将散热性差的产品筛选掉，避免散热性差的产品在应用过程中，因温度升高导致失效。

现有器件的热阻的测量采用电学方法测量，即以晶体管正向PN结结电压随温度变化作为温度敏感参数，测量器件加热前后结电压的变化，可得出器件加热前后的温升。

目前市场上大部分都是外国进口，价格昂贵。测得大多是结温和壳温之间的热阻，

并没有去测结温与周围大环境温度的热阻。单温采样不直观且没有对比性。操作相对复杂，固定的夹具比较特殊的封装不能满足使用等等，因此需要研发一款新型的热阻测试装置，来解决目前所遇到的问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种使用方便，操作简单，能对器件进行多温度采集，多点计算，测试方便，测试结果精准，能实现自动测试，并生成图标和曲线，具有实用性和使用广泛性的热阻测试装置。

为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案：

一种热阻测试装置，包括测试装置主体，测试装置主体由机架、显示器、键盘鼠标操作台、烘箱、工业控制计算机和电源箱组成，所述机架的上端设有台面，所述台面上安装有有机玻璃罩和立柱，显示器安装在立柱上，所述键盘鼠标操作台、烘箱、工业控制计算机、电源箱都安装在测试装置主体的内部，键盘鼠标操作台设置在烘箱的上端，工业控制计算机设置在电源箱的上端，所述有机玻璃罩内部设有四个温度线，分别标为TC：测管壳温度线、TL：测引线温度线、Ta：小环境温度线、TA：大环境温度线。

优选的，机架的两侧设有侧面板，机架的背面设有背面板，侧面板、背面板上都设有散热通风孔。

该设置，增加了设备的散热功能，使得设备工作时产生的热量能够快速散失，间接的提高了内部电子元件的使用寿命。

优选的，所述机架的正面上端设有上门板，下端设有下门板，所述上门板上设有一个窗口，所述烘箱上设有操控区，窗口正对操控区设置。

该设置，便于通过窗口直接对烘箱进行设置、操作，同时通过门板的作用隔绝温度，减少外部环境的影响，同时使得设备整体更加的美观。

优选的，所述侧面板的内侧安装有风机。

该设置，便于通过风机的作用加快设备内部空气的流通速度，便于内部电子元件的快速散热，保证电子元件的正常工作。

本实用新型的有益效果是：使用方便，操作简单，能对器件进行多温度采集，多点计算，测试方便，测试结果精准，能实现自动测试，并生成图标和曲线，具有实用性和使用的广泛性。

附图说明