[实用新型]RoCE芯片测试装置

权利要求书

1.一种RoCE芯片测试装置，其特征在于，包括：

测试主板（100），其用于安装被测RoCE芯片，其用于为被测RoCE芯片提供时钟及配置信息；

PCIe转接板（101），其与测试主板（100）、主机（115）分别电气连接，其用于实现PCIe物理接口位宽的转换；

SFP28测试板（102），其与测试主板（100）电气连接，其光接口与光模块连接；或者，QSFP28测试板（103），其与测试主板（100）电气连接，其光接口与光模块连接。

2.根据权利要求1所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述测试主板（100）包括：

芯片测试座（106），其用于固定被测RoCE芯片并与被测RoCE芯片电气连接；

时钟（108），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于为被测RoCE芯片提供所需参考时钟；

存储器（112），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于上电时对被测RoCE芯片的工作模式进行配置。

3.根据权利要求2所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述测试主板（100）还包括：

第三射频连接器（104），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于与SFP28测试板（102）或QSFP28测试板（103）电气连接。

4.根据权利要求2所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述测试主板（100）还包括：

PCIe x16接口（111），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于与PCIe转接板（101）电气连接。

5.根据权利要求2所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述测试主板（100）还包括：

拔码开关（107），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于设置被测RoCE芯片的控制信号状态；

指示灯（109），其与芯片测试座（106）电气连接，其用于显示被测RoCE芯片输出状态信号的状态；

调试接口（110），其与芯片测试座（106）电气连接，其为被测RoCE芯片的通信接口，其包括JTAG、I2C、SPI、GPIO。

6.根据权利要求1所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述PCIe转接板（101）包括：

PCIe x16座子（113），其用于与测试主板（100）电气连接；

PCIex8接口（114），其与PCIe x16座子（113）电气连接，其用于与主机（115）电气连接。

7.根据权利要求1所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述SFP28测试板（102）包括：

SFP28接口（117），其作为光接口，其用于与光模块连接；

第一I2C接口（118），其与SFP28接口（117）电气连接，其用于访问光模块的内部信息；

第一射频连接器（119），其与SFP28接口（117）电气连接，其用于与测试主板（100）电气连接。

8.根据权利要求1所述RoCE芯片测试装置，其特征在于，所述QSFP28测试板（103）包括：

QSFP28接口（121），其作为光接口，其用于与光模块连接；

第二I2C接口（122），其与QSFP28接口（121）电气连接，其用于访问光模块的内部信息；

第二射频连接器（123），其与QSFP28接口（121）电气连接，其用于与测试主板（100）电气连接。