[实用新型]一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置

说明书

本实用新型提供一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置，包括：主回路，所述主回路包括电源和控制电路开/断的开关S1；灵敏度测试回路，灵敏度测试回路和灵敏度显示回路并联后，接入主回路；探针，所述两个探针分别与主回路的正/负极相连；测试时，两个探针分别点触光电耦合器的A脚和K脚，灵敏度显示回路显示光电耦合器正常/损坏。使用时，不需要把光耦从电路板上拆下来，就可以测试光耦的损坏和光衰老化程度，避免元件拆卸中造成的元器件和PCB损伤；只需要用探针点触光耦就能方便的测试出光耦的光衰老化程度，快捷有效，且其电路结构简单，制作成本低廉，便于市场推广。

技术领域

本实用新型属于电路检测领域，具体涉及一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置。

背景技术

光电耦合器在电路中起输入输出与核心处理部分或不同电位信号的隔离作用，工作过程中，容易出现损坏和光衰老化。目前的光耦测试仪都需要拆下光耦再插入测试仪上。维修时，需要把光电耦合器从电子电路板上拆下光电耦合器，且需要接线或用探针多次点触测试，其光衰程度也无法测量。

实用新型内容

本实用新型提供一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置，无需从电路板上拆下光耦，就可直接测试光耦的好坏与光衰老化程度。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置，包括：主回路，所述主回路包括电源和控制电路开/断的开关S1；灵敏度测试回路，所述灵敏度测试回路和灵敏度显示回路并联后，接入主回路；可调探针，探针分别与主回路的正/负极相连；测试时，探针分别点触光电耦合器的A脚和K脚，灵敏度显示回路显示光电耦合器正常/损坏。

进一步的，所述灵敏度测试回路包括八档位的电流档位拨码开关和分别与每个档位串联的八个限流电阻。

进一步的，所述电流档位拨码开关的引脚1至8接电源的正极，引脚9至16分别和限流电阻R1至R8串联。

进一步的，所述灵敏度显示回路包括探针接触指示灯D1和与其串联的限流电阻R10；探针接触指示灯D1的阴极接主回路的负极，阳极和限流电阻R10串联。

进一步的，所述灵敏度显示回路还包括电流放大三极管Q1和限流电阻R9；电流放大三极管Q1的基极和主回路正极相连，发射极和限流电阻R10相连，集电极和限流电阻R9相连，限流电阻R9接入主回路。

进一步的，可调探针的间距为1.27-2.54mm。

本实用新型的有益效果在于：不需要把光耦从电路板上拆下来，就可以测试光耦的损坏和光衰老化程度，避免元件拆卸中造成的元器件和PCB损伤；只需要用探针点触光耦就能方便的测试出光耦的光衰老化程度，快捷有效，且其电路结构简单，制作成本低廉，便于市场推广。

附图说明

图1为一种控制印刷墨盒的光电耦合器检测装置的电路图。

具体实施方式

为了使实施例的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例基本如附图1所示，包括：主回路，所述主回路包括电源和控制电路开/断的开关S1；灵敏度测试回路，所述灵敏度测试回路和灵敏度显示回路并联后，接入主回路；可调探针，探针分别与主回路的正/负极相连；测试时，探针分别点触光电耦合器的A脚和K脚，灵敏度显示回路显示光电耦合器正常/损坏。

本实施例所述灵敏度测试回路包括八档位的电流档位拨码开关和分别与每个档位串联的八个限流电阻。

本实施例所述电流档位拨码开关的引脚1至8接电源的正极，引脚9至16分别和限流电阻R1至R8串联。