[实用新型]一种内存芯片测试治具

说明书

本实用新型公开了一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，主板本体固定在主板固定夹具内，金手指部向外伸出主板固定夹具。主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。芯片夹扣的一端与主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与主板固定夹具扣合连接。本实用新型的治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种内存芯片测试治具。

背景技术

PCB即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，只要有集成电路等电子元件，为了使各个元件之间的电气互连，都需要使用印制板。印制线路板通常由板体和焊接在板体上的若干内存芯片组成，内存芯片在焊接至板体上之前都需要进行性能测试。现有的内存芯片测试治具普遍存在操作不便且测试效率不高的问题，所以需要设计一款操作方便且测试效率高的内存芯片测试治具。

发明内容

针对背景技术中所存在的技术问题，本实用新型的目的在于提供一种操作方便且测试效率高的内存芯片测试治具。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定所述芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。所述的芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，所述的主板本体固定在所述主板固定夹具内，所述的金手指部向外伸出所述主板固定夹具。所述主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，所述主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。所述芯片夹扣的一端与所述主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与所述主板固定夹具扣合连接。

进一步地，所述主板固定夹具在靠近金手指部的一侧开设有锁扣槽，所述芯片夹扣的一端通过第一扭簧与所述主板固定夹具远离金手指部的一侧相连接。所述的锁扣件包括用于卡入所述锁扣槽内的锁扣片、与所述锁扣片的内侧面相抵接的推杆以及用于驱动所述推杆前后移动以实现锁扣片解锁的按压块。所述的锁扣片通过第二扭簧安装于芯片夹扣远离第一扭簧的一端，锁扣片的内侧设有卡钩。所述的按压块通过转轴安装在所述芯片夹扣顶部并与所述推杆相抵接。

其中，所述的按压块包括一体成型的按压部和旋转部，所述的按压部穿过所述芯片夹扣并与所述推杆的一端相抵接。所述旋转部设在所述按压部靠近锁扣片一侧端面的上部，所述旋转部上开设有供所述转轴穿过的通孔。

优选地，为了更好地实现对待测内存芯片的固定，所述芯片夹扣的底部的左右两侧各设有一个用于压紧待测内存芯片的压紧块，所述的压紧块与所述容置槽一一对应设置。

优选地，为了防止待测内存芯片因挤压力过大而造成损坏，所述压紧块的底部套设有缓冲橡胶块。

优选地，为了更好地实现对推杆的导向作用，所述芯片夹扣的底部固设有一导向座，所述的导向座上开设有供所述推杆穿过的导向孔。

优选地，所述主板本体每一面上的芯片探针数量为8个或9个。

本实用新型具有如下有益效果：提供一种内存芯片测试治具，该治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便，测试效率高。芯片夹扣通过设置在其顶部的按压块实现解锁，结构合理，方便省力，解锁方便快捷，操作简单。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为芯片夹扣的解锁原理图。