[实用新型]一种霍尔元件三维磁场测试装置有效

专利信息
申请号: 202120269234.1 申请日: 2021-01-29
公开(公告)号: CN215067240U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 茹建成 申请(专利权)人: 绍兴千欣电子技术有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 代理人: 刘富艳
地址: 312000 浙江省绍兴市越城区朝皇路2*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 霍尔 元件 三维 磁场 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种霍尔元件三维磁场测试装置,包括支架(1)和测试台(2),其特征在于,所述支架(1)用于支撑测试台(2),所述测试台(2)上设有三组线圈,三组所述线圈分别为X轴线圈组(3)、Y轴线圈组(4)和Z轴线圈组(5),所述X轴线圈组(3)、Y轴线圈组(4)和Z轴线圈组(5)的磁场方向在空间内相互垂直,所述X轴线圈组(3)和Y轴线圈组(4)之间设有承台(6),所述承台(6)用于放置需要测试的元件,所述测试台(2)上设有电路板,所述电路板位于线圈组的下方,所述电路板用于反馈测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述Z轴线圈组(5)内侧设有安装块(7),所述X轴线圈组(3)和Y轴线圈均位于安装块(7)内,且与安装块(7)配合。

3.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述支架(1)的一侧设有提升装置,所述提升装置包括固定板(8)和提升板(9),所述固定板(8)与支架(1)的一侧固定连接,所述提升板(9)与测试台(2)的一侧固定连接,所述固定板(8)内设有气缸(10),所述气缸(10)用于带动提升板(9)移动。

4.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述支架(1)的一侧设有下位传感器(11),所述下位传感器(11)用于限制测试台(2)的最低位置。

5.根据权利要求4所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述测试台(2)一侧的下端设有插板(12),所述下位传感器(11)上设有插槽(13),所述插板(12)与插槽(13)插接配合,所述插板(12)用于限定测试台(2)的最低位置。

6.根据权利要求3所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述支架(1)上设有两个磁性开关,两个所述磁性开关分别为上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15),所述提升板(9)上固设有限位块(16),所述限位块(16)位于上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15)之间,所述上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15)用于限定限位块(16)的移动位置。

7.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述支架(1)呈L形,所述支架(1)的底面上开设有若干连接孔,所述连接孔用于固定支架(1)。

8.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述承台(6)上设有安置槽(17),所述安置槽(17)用于放置芯片。

9.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置,其特征在于,所述电路板包括子电路板(18)和母电路板(19),所述子电路板(18)位于承台(6)的正下方,所述子电路板(18)与母电路板(19)电性连接。

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