[实用新型]一种背光模组跌落试验装置

说明书

一种背光模组跌落试验装置，包括测试底座及测试盖板，测试底座的中部开设有一个与背光模组匹配的放置槽，放置槽的中部开设有一个石墨片避空槽，石墨片避空槽的上端设置有一个FPC避空槽，FPC避空槽的上端设有一个接头避空槽，石墨片避空槽的底部设有电子元件避空槽，石墨片避空槽的左侧设有一个拿手槽，电子元件避空槽的一侧开设有一个摄像头避空槽，FPC避空槽、电子元件避空槽及拿手槽均与石墨片避空槽连通，摄像头避空槽及接头避空槽均为独立槽结构，测试盖板可拆卸的覆盖于测试底座上。本实用新型可将背光模组放入放置槽内，然后再将测试盖板覆盖于测试底座上进行跌落试验，还原度高，实验结果准确。

技术领域

本实用新型涉及背光实验技术领域，具体为一种背光模组跌落试验装置。

背景技术

随着手机背光品质要求越来越严，背光模组的可靠性要求越来越高，特殊情况下需对单个背光模组进行跌落试验，以验证背光模组在正常要求的条件下跌落是否会出现异常现象。目前在对单个背光模组进行跌落试验时，往往是将其放置于一个密封腔内进行跌落实验，这种试验方式并没有对背光模组上的各个元件进行预定位，而背光模组在真实的安装情况下各零件均有定位结构对齐进行定位，因此这种试验方式还原程度差，各零件容易在跌落过程中发生偏移，造成试验结果不准确。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种背光模组跌落试验装置，解决了现有技术中，对单个背光模组进行跌落试验时并没有对背光模组上的各个元件进行预定位，还原程度差，各零件容易在跌落过程中发生偏移，造成试验结果不准确的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种背光模组跌落试验装置，包括测试底座及测试盖板，所述测试底座的中部开设有一个与背光模组匹配的放置槽，所述放置槽的中部开设有一个石墨片避空槽，所述石墨片避空槽的上端设置有一个FPC避空槽，所述FPC避空槽的上端设有一个接头避空槽，所述石墨片避空槽的底部设有电子元件避空槽，所述石墨片避空槽的左侧设有一个拿手槽，所述电子元件避空槽的一侧开设有一个摄像头避空槽，所述FPC避空槽、电子元件避空槽及拿手槽均与所述石墨片避空槽连通，所述摄像头避空槽及接头避空槽均为独立槽结构，所述石墨片避空槽、FPC避空槽、接头避空槽、电子元件避空槽及摄像头避空槽的内壁面上均设有一个限位块，所述测试盖板可拆卸的覆盖于所述测试底座上。

进一步地，所述限位块均为软质橡胶块，所述限位块均可发生弹性形变。

进一步地，所述放置槽的外侧开设有一个盖板槽，所述测试盖板的底面上固定安装有一个与所述盖板槽匹配的玻璃盖板，当所述测试盖板覆盖于所述测试底座上时，所述玻璃盖板对齐嵌入所述盖板槽内。

进一步地，所述测试底座沿其周向均匀设置有数个安装孔，所述测试盖板沿其周向均匀设有数个与所述安装孔对齐的安装过孔，所述测试盖板通过固定螺钉与安装孔及安装过孔的匹配固定安装于所述测试底座上。

本实用新型结构设计合理，当需要对背光模组进行跌落测试时，可先将背光模组对齐嵌入放置槽，此时，石墨片对齐嵌入石墨片避空槽内，FPC对齐嵌入FPC避空槽内，摄像头模组对齐嵌入摄像头避空槽内，电子元件对齐嵌入电子元件避空槽内，然后再轻轻下压背光模组，直至石墨片、FPC、模组接头、摄像头模组及电子元件均下压限位块嵌入限位块的下端，此时，限位块可对其下方的石墨片、FPC、模组接头、摄像头模组及电子元件起到一定的预定位作用，然后再将测试盖板通过固定螺钉覆盖于测试底座上，此时玻璃盖板对齐嵌入盖板槽内，然后再进行跌落测试。该装置可对背光模组上的石墨片、FPC、模组接头、摄像头模组及电子元件进行预定位，尽量还原背光模组在真实的安装情况下定位状况，同时，背光模组的上端面上还覆盖有一层玻璃盖板，相当于现实安装状况下背光模组上的玻璃盖板，还原度高，提高了测试结果的准确性。

附图说明

图1为本实用新型中测试底座的结构示意图；

图2为本实用新型中测试盖板的结构示意图；